Wang laung terng (9 Ergebnisse)
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Zustand: Gut. 777 S. Einband hinten leicht eingedrückt. Schnitt unten dezent fleckig. Mit Bibliothek-Stempel. 518 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1800 Gebundene Ausgabe, Maße: 20.62 cm x 5.23 cm x 23.83 cm.
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Hardcover. Zustand: Brand New. illustrated edition. 896 pages. 9.50x7.50x1.50 inches. In Stock.
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Zustand: New. pp. xxxv + 934 Illus.
VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability
Wang, Laung-terng (Editor)/ Wu, Cheng-Wen (Editor)/ Wen, Xiaoqing (Editor)
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Hardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 777 pages. 9.25x7.50x2.00 inches. In Stock.
Electronic Design Automation: Synthesis, Verification, and Test (Systems on Silicon)
Wang, Laung-terng (Editor)/ Chang, Yao-Wen (Editor)/ Cheng, Kwang-Ting (Editor)
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Hardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 972 pages. 9.40x7.40x1.80 inches. In Stock.
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Paperback. Zustand: Brand New. 1st edition. 808 pages. 9.35x7.50x1.83 inches. In Stock.
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Zustand: gut. 2006. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon) In englischer Sprache. pages.
