System-On-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testabilityvolume .

Laung-Terng Wang|Charles E. Stroud|Nur A. Touba

ISBN 10: 012373973X ISBN 13: 9780123739735
Verlag: Elsevier Science, 2008
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Hardcover

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