VLSI Test Principles and Architectures

Sprache: Englisch

Verlag: Morgan Kaufmann, 2006

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1st edition. 808 pages. 9.35x7.50x1.83 inches. In Stock.

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Titel
VLSI Test Principles and Architectures
Autor
Wang, Laung-Terng/ Wu, Cheng-Wen/ Wen, Xiaoqing
Verlag
Morgan Kaufmann
Erscheinungsjahr
2006
Zustand
Brand New
Einband
Paperback
Sprache
Englisch
ISBN-10
1493300865
ISBN-13
9781493300860
Artikelgewicht
1,71 Kilogramm

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