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Terrestrial Neutron-Induced Soft Errors in Advanced Memory Devices.
Sprache: Englisch
Verlag: World Scientific Publishing Company., 2008
ISBN 10: 9812778810 ISBN 13: 9789812778819
Anbieter: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ ILAB VDA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
15 x 23 cm. 368 pages. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch.
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Terrestrial Neutron-Induced Soft Errors in Advanced Memory Devices
Sprache: Englisch
Verlag: World Scientific Publishing Company, 2008
ISBN 10: 9812778810 ISBN 13: 9789812778819
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Terrestrial Neutron-Induced Soft Errors in Advanced Memory Devices
Sprache: Englisch
Verlag: World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2008
ISBN 10: 9812778810 ISBN 13: 9789812778819
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 112,41
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Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: Used. pp. xxii + 343 Figures, Illus.
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Terrestrial Neutron-Induced Soft Errors in Advanced Memory Devices
Sprache: Englisch
Verlag: World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2008
ISBN 10: 9812778810 ISBN 13: 9789812778819
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: Used. pp. xxii + 343.
