Terrestrial Neutron-Induced Soft Errors in Advanced Memory Devices.

Nakamura, Takashi/Ibe, Eishi/Baba, Mamoru/Yahagi, Yasuo/Kameyama, Hideaki

ISBN 10: 9812778810 ISBN 13: 9789812778819
Verlag: World Scientific Publishing Company., 2008
Sprache: Englisch
Zustand: Gebraucht Hardcover

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