Terrestrial Neutron-Induced Soft Errors in Advanced Memory Devices

Kameyama Hideaki Yahagi Yasuo Ibe Eishi Baba Mamoru Nakamura Takashi

ISBN 10: 9812778810 ISBN 13: 9789812778819
Verlag: World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2008
Sprache: Englisch
Zustand: Gebraucht Hardcover

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