Vlsi test principles architectures (5 Ergebnisse)
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Anbieter: diakonia secondhand, München, Deutschlanddiakonia secondhand
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Zustand: Gut. 777 S. Einband hinten leicht eingedrückt. Schnitt unten dezent fleckig. Mit Bibliothek-Stempel. 518 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1800 Gebundene Ausgabe, Maße: 20.62 cm x 5.23 cm x 23.83 cm.
- Hardcover
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes KönigreichMajestic Books
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Zustand: New. pp. xxx + 777 Illus.
VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability
Wang, Laung-terng (Editor)/ Wu, Cheng-Wen (Editor)/ Wen, Xiaoqing (Editor)
- Hardcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
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Hardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 777 pages. 9.25x7.50x2.00 inches. In Stock.
- Softcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
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Paperback. Zustand: Brand New. 1st edition. 808 pages. 9.35x7.50x1.83 inches. In Stock.
- Hardcover
Anbieter: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, DeutschlandBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer
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Zustand: gut. 2006. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon) In englischer Sprache. pages.
