Defects silicon (53 Ergebnisse)
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Verlag: Electrochemical Society, 1983
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Verlag: Springer, 2016
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Taschenbuch. Zustand: Neu. The main defects of silicon carbide ingots and epitaxial layers | Topical review | Yuri Tairov (u. a.) | Taschenbuch | 80 S. | Englisch | 2016 | LAP Lambert Academic Publishing | EAN 9783659836213 | Verantwortliche Person für die EU: BoD - Books on Demand, In de Tarpen 42, 22848 Norderstedt, info[at]bo…d[dot]de | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Fluorine enriched silicon: properties and advantages | Interaction between point defects, fluorine and boron atoms in crystalline silicon | Giuliana Impellizzeri | Taschenbuch | 120 S. | Englisch | 2010 | LAP LAMBERT Academic Publishing | EAN 9783843374088 | Verantwortliche Person für die EU: BoD - Boo…ks on Demand, In de Tarpen 42, 22848 Norderstedt, info[at]bod[dot]de | Anbieter: preigu.
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Verlag: Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften, 2015
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Origins of Non-Ideal Current-Voltage Characteristics of Si Solar Cells | Analyses of the impact of shunts, breakdown sites, and defects on multicrystalline silicon solar cells | Jan Bauer | Taschenbuch | 108 S. | Englisch | 2015 | Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften | EAN 9783838128658 | Ver…antwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. The Silicon Carbide MOS Capacitor | A Study of Defects, Generation Lifetimes, Leakage Currents, and Other Interesting Nonidealities in the Non-equilibrium SiC/SiO2 MOS Capacitor | Matthew Marinella | Taschenbuch | Kartoniert / Broschiert | Englisch | 2008 | VDM Verlag Dr. Müller | EAN 9783639089059 | V…erantwortliche Person für die EU: OmniScriptum GmbH & Co. KG, Bahnhofstr. 28, 66111 Saarbrücken, info[at]akademikerverlag[dot]de | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Crystal defects in multicrystalline silicon | Formation and growth of crystal defects in directionally solidified multicrystalline silicon for solar cells | Birgit Ryningen | Taschenbuch | Englisch | VDM Verlag Dr. Müller | EAN 9783639052329 | Verantwortliche Person für die EU: VDM Verlag Dr. Müller, B…rivibas Gatve 197, 1039 RIGA, LETTLAND, customerservice[at]vdm-vsg[dot]de | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Defects Spectroscopy in Silicon Diodes | Deep-level traps in semiconductors physics: from ultra-fast recovery to radiation-induced damage | Nicolò Barbero | Taschenbuch | 244 S. | Englisch | 2015 | Edizioni Accademiche Italiane | EAN 9783639773040 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co.…KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware - The Office of Scientific & Technical Information (OSTI), is a part of the U.S. Department of Energy (DOE) that houses research and development results from projects funded by the DOE. The information is generally an article, technical document, conference paper or dissertation. This is one of… those publications.
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Verlag: Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften, 2015
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Organic Peracid Etches | Novel chromium-free etching solutions for the delineation of crystalline defects in thin silicon films | Daniel Georg Possner | Taschenbuch | 192 S. | Englisch | 2015 | Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften | EAN 9783838118536 | Verantwortliche Person für die EU: preig…u GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.
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Verlag: Springer, 2016
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Defects and Impurities in Silicon Materials | An Introduction to Atomic-Level Silicon Engineering | Yutaka Yoshida (u. a.) | Taschenbuch | Lecture Notes in Physics | xv | Englisch | 2016 | Springer | EAN 9784431557999 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 H…eidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Verlag: Springer, Springer, 2016
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book emphasizesthe importance of the fascinating atomistic insights into the defects and theimpurities as well as the dynamic behaviors in silicon materials, which havebecome more directly accessible over the past 20 years. Such progress has bee…nmade possible by newly developed experimental methods, first principle theories,and computer simulation techniques.The book is aimed at young researchers, scientists, and technicians in related industries. The mainpurposes are to provide readers with 1) the basic physics behind defects insilicon materials, 2) the atomistic modeling as well as the characterizationtechniques related to defects and impurities in silicon materials, and 3) anoverview of the wide range of the research fields involved.
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon (Computational Microelectronics)
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Verlag: Springer, 2004
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