Yuri tairov (2 Ergebnisse)
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Taschenbuch. Zustand: Neu. The main defects of silicon carbide ingots and epitaxial layers | Topical review | Yuri Tairov (u. a.) | Taschenbuch | 80 S. | Englisch | 2016 | LAP Lambert Academic Publishing | EAN 9783659836213 | Verantwortliche Person für die EU: BoD - Books on Demand, In de Tarpen 42, 22848 Norderstedt, info[at]bod[dot]de | Anbieter: preigu. …
