9781786306876 - applications and metrology at nanometer-scale 2: measurement systems, quantum engineering and rbdo method (mechanical enginnering and solid mechanics, band 10) von dahoo, pierre-richard; pougnet, philippe; el hami, abdelkhalak (5 Ergebnisse)
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Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method (Mechanical Enginnering and Solid Mechanics)
Dahoo, Pierre-Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, Abdelkhalak
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Gebunden. Zustand: New. Pierre Richard Dahoo is Professor and Holder of the Chair of Materials Simulation and Engineering at the University of Versailles Saint-Quentin in France. He is Director of Institut des Sciences et Techniques des Yvelines and a specialist in modeling and sp.
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Zustand: gut. Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method (Mechanical Enginnering and Solid Mechanics) In englischer Sprache. pages.
