Applications and Metrology at Nanometer-scale: Measurement Systems, Quantum Engineering and Rbdo Method: Vol 10

Dahoo, Pierre-Richard

ISBN 10: 1786306875 ISBN 13: 9781786306876
Verlag: Wiley-ISTE, 2021
Sprache: Englisch
Neu Zustand: Brand New Hardcover

Verkäufer Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich

Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen 5 Sterne, Erfahren Sie mehr über Verkäufer-Bewertungen

AbeBooks-Verkäufer seit 6. Januar 2003

Alle Artikel dieses Verkäufers anzeigen


Neu - Hardcover

Preis: EUR 221,72 Währung umrechnen
EUR 11,87 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach Deutschland Versandziele, Kosten & Dauer

Anzahl: 2 verfügbar

In den Warenkorb legen