Philippe pougnet (25 Ergebnisse)
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Dahoo, Pierre Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, Abdelkhalak
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Dahoo, Pierre Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, Abdelkhalak
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Dahoo, Pierre-Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, Abdelkhalak
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Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method (Mechanical Enginnering and Solid Mechanics)
Dahoo, Pierre-Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, Abdelkhalak
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Applications and Metrology at Nanometer-scale : Measurement Systems, Quantum Engineering and Rbdo Method
Dahoo, Pierre Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, Abdelkhalak
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Dahoo, Pierre-Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, Abdelkhalak
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Gebunden. Zustand: New. Provides many detailed examples Develops a characterization methodology for faults in mechatronic systems Analyzes the multi-physical modeling of faults, revealing weaknesses in design and failure mechanismsRedak.
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Zustand: New. Provides a statistical approach to design optimization through reliability Presents an experimental approach for the characterization of the development of mechatronic systems in operating mode Analyzes new tools that effect therm.
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Dahoo, Pierre-Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, Abdelkhalak
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Zustand: New. Pierre Richard Dahoo is Professor and Holder of the Chair of Materials Simulation and Engineering at the University of Versailles Saint-Quentin in France. He is Director of Institut des Sciences et Techniques des Yvelines and a specialist in modeling and sp.
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Dahoo, Pierre Richard/ Pougnet, Philippe/ El Hami, Abdelkhalak
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Hardcover. Zustand: Brand New. 200 pages. 10.00x6.50x1.00 inches. In Stock.
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Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.…
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Anbieter: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, DeutschlandBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer
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Zustand: gut. Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method (Mechanical Enginnering and Solid Mechanics) In englischer Sprache. pages.
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Paperback. Zustand: Brand New. 214 pages. French language. 5.98x0.43x9.02 inches. In Stock.
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Paperback. Zustand: Brand New. 272 pages. French language. 5.98x0.55x9.02 inches. In Stock.
