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Les systèmes mécatroniques embarqués: Tome 2, Analyse des causes de défaillances, modélisation, stimulation et optimisation
Sprache: Englisch
Verlag: Hermes Science Publishing Ltd, 2015
ISBN 10: 1784050598 ISBN 13: 9781784050597
SonderangebotEUR 5,84
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In den WarenkorbSoftcover. Zustand: Très bon. Ancien livre de bibliothèque avec équipements. Edition 2015. Tome 2. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Very good. Former library book. Edition 2015. Volume 2. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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les syst?mes m?catroniques embarqu?s t.2 ; analyse des causes de d?faillances, mod?lisation, simulation et optimisation
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 45,81
EUR 7,64 Versand
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Systemes Mecatroniques Embarques V2, Les
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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les syst?mes m?catroniques embarqu?s t.1 ; analyse des causes de d?faillances, fiabilit? et contraintes
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 47,75
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In den WarenkorbZustand: New.
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Systemes Mecatroniques Embarques V1, Les
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Embedded Mechatronic Systems, Volume 1
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 93,34
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In den WarenkorbZustand: New. pp. 280.
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Embedded Mechatronic Systems, Volume 2
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 96,32
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In den WarenkorbZustand: New.
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Embedded Mechatronic Systems 2: Analysis of Failures, Modeling, Simulation and Optimization
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 115,96
EUR 14,09 Versand
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Embedded Mechatronic Systems: Analysis of Failures, Predictive Reliability
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 115,96
EUR 14,09 Versand
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 155,44
EUR 14,09 Versand
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 161,52
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In den WarenkorbZustand: New.
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Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method (Mechanical Enginnering and Solid Mechanics)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 155,44
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Embedded Mechatronic Systems, Volume 2 : Analysis of Failures, Modeling, Simulation and Optimization
Sprache: Englisch
Verlag: ISTE Press Ltd - Elsevier Inc, 2015
ISBN 10: 1785480146 ISBN 13: 9781785480140
Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 272 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 192,76
EUR 7,64 Versand
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In den WarenkorbZustand: New.
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EUR 151,88
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In den WarenkorbZustand: New. Provides a statistical approach to design optimization through reliability Presents an experimental approach for the characterization of the development of mechatronic systems in operating mode Analyzes new tools that effect therm.
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EUR 152,12
EUR 48,99 Versand
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Provides many detailed examples Develops a characterization methodology for faults in mechatronic systems Analyzes the multi-physical modeling of faults, revealing weaknesses in design and failure mechanismsRedak.
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EUR 166,43
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In den WarenkorbZustand: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.Klappentext.
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EUR 168,73
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In den WarenkorbZustand: New. Pierre Richard Dahoo is Professor and Holder of the Chair of Materials Simulation and Engineering at the University of Versailles Saint-Quentin in France. He is Director of Institut des Sciences et Techniques des Yvelines and a specialist in modeling and sp.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 222,02
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 200 pages. 10.00x6.50x1.00 inches. In Stock.
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Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method: 10 (Mechanical Enginnering and Solid Mechanics)
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 250,46
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In den WarenkorbZustand: New.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware - To develop innovations in quantum engineering and nanosystems, designers need to adopt the expertise that has been developed in research laboratories. This requires a thorough understanding of the experimental measurement techniques and theoretical models, based on the principles of quantum mechanics.This book presents experimental methods enabling the development and characterization of materials at the nanometer scale, based on practical engineering cases, such as 5G and the interference of polarized light when applied for electromagnetic waves. Using the example of electromechanical, multi-physical coupling in piezoelectric systems, smart materials technology is discussed, with an emphasis on scale reduction and mechanical engineering applications.Statistical analysis methods are presented in terms of their usefulness in systems engineering for experimentation, characterization or design, since safety factors and the most advanced reliability calculation techniques are included from the outset. This book provides valuable support for teachers and researchers but is also intended for engineering students, working engineers and Master s students.
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Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method (Mechanical Enginnering and Solid Mechanics) Philippe Pougnet
Anbieter: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: gut. Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method (Mechanical Enginnering and Solid Mechanics) In englischer Sprache. pages.
