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les syst?mes m?catroniques embarqu?s t.2 ; analyse des causes de d?faillances, mod?lisation, simulation et optimisation
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Systemes Mecatroniques Embarques V2, Les
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Les systèmes mécatroniques embarqués: Tome 2, Analyse des causes de défaillances, modélisation, stimulation et optimisation
Sprache: Englisch
Verlag: Hermes Science Publishing Ltd, 2015
ISBN 10: 1784050598 ISBN 13: 9781784050597
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In den WarenkorbSoftcover. Zustand: Très bon. Ancien livre de bibliothèque avec équipements. Edition 2015. Tome 2. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Very good. Former library book. Edition 2015. Volume 2. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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les syst?mes m?catroniques embarqu?s t.1 ; analyse des causes de d?faillances, fiabilit? et contraintes
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Systemes Mecatroniques Embarques V1, Les
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Embedded Mechatronic Systems, Volume 1
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Embedded Mechatronic Systems, Volume 2
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Embedded Mechatronic Systems 2: Analysis of Failures, Modeling, Simulation and Optimization
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 113,17
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Embedded Mechatronic Systems: Analysis of Failures, Predictive Reliability
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 113,17
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 146,41
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 151,68
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Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method (Mechanical Enginnering and Solid Mechanics)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 151,68
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Embedded Mechatronic Systems 2: Analysis of Failures, Predictive Reliability
Sprache: Englisch
Verlag: Elsevier Science & Technology|ISTE Press - Elsevier, 2019
ISBN 10: 1785481894 ISBN 13: 9781785481895
EUR 124,95
EUR 48,99 Versand
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Mechatronics brings together computer science, mechanics and electronics. It enables us to improve the performances of embedded electronic systems by reducing their weight, volume, energy consumption and cost. Mechatronic equipment must operate without f.
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Embedded Mechatronic Systems, Volume 2
Sprache: Englisch
Verlag: Elsevier Science & Technology|ISTE Press - Elsevier, 2020
ISBN 10: 1785481908 ISBN 13: 9781785481901
EUR 124,95
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Embedded Mechatronic Systems 2: Analysis of Failures, Modeling, Simulation and Optimization presents advances in research within the field of mechatronic systems, which integrates reliability into the design process. Providing many detailed exampl.
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Embedded Mechatronic Systems, Volume 2 : Analysis of Failures, Modeling, Simulation and Optimization
Sprache: Englisch
Verlag: ISTE Press Ltd - Elsevier Inc, 2015
ISBN 10: 1785480146 ISBN 13: 9781785480140
Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 272 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 187,02
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Pierre Richard Dahoo is Professor and Holder of the Chair of Materials Simulation and Engineering at the University of Versailles Saint-Quentin in France. He is Director of Institut des Sciences et Techniques des Yvelines and a specialist in modeling and sp.
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EUR 164,41
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Pierre Richard Dahoo is Professor and Holder of the Chair of Materials Simulation and Engineering at the University of Versailles Saint-Quentin in France. He is Director of Institut des Sciences et Techniques des Yvelines and a specialist in modeling and sp.
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EUR 166,43
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In den WarenkorbZustand: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.Klappentext.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 216,03
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 200 pages. 10.00x6.50x1.00 inches. In Stock.
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Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method: 10 (Mechanical Enginnering and Solid Mechanics)
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 249,22
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