Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties

Dahoo, Pierre-Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, Abdelkhalak

ISBN 10: 1786306409 ISBN 13: 9781786306401
Verlag: John Wiley & Sons, 2021
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Hardcover

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