Gesamtpreis (1 Artikel Artikel):
Versandziel:
9781786306401 - Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties von Dahoo, Pierre-Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, Abd... (7 Ergebnisse)
Direkt zu den wichtigsten Suchergebnissen
Suchfilter
Produktart
- Alle Product Types
- Bücher (7)
- Magazine & Zeitschriften (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Comics (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Noten (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Kunst, Grafik & Poster (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Fotografien (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Karten (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Manuskripte & Papierantiquitäten (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
Zustand Mehr dazu
- Neu (7)
- Wie Neu, Sehr Gut oder Gut Bis Sehr Gut (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Gut oder Befriedigend (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Ausreichend oder Schlecht (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Wie beschrieben (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
Einband
- alle Einbände
- Hardcover (7)
- Softcover (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
Weitere Eigenschaften
- Erstausgabe (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Signiert (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Schutzumschlag (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Angebotsfoto (2)
Sprache (1)
Preis
- Beliebiger Preis
- Weniger als EUR 20 (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- EUR 20 bis EUR 45 (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Mehr als EUR 45
Gratisversand
- Kostenloser Versand nach USA (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
Land des Verkäufers
Verkäuferbewertung
-
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 154,36
EUR 5,81 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 15 verfügbar
In den WarenkorbHRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
-
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 152,91
EUR 13,86 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
-
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 189,50
EUR 7,52 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 3 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
-
EUR 167,92
EUR 48,99 Versand
Versand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Pierre Richard Dahoo is Professor and Holder of the Chair of Materials Simulation and Engineering at the University of Versailles Saint-Quentin in France. He is Director of Institut des Sciences et Techniques des Yvelines and a specialist in modeling and sp.
-
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1, Volume 9: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 218,20
EUR 14,46 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 256 pages. 0.39x0.39x0.39 inches. In Stock.
-
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Sprache: Englisch
Verlag: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2021
ISBN 10: 1786306409 ISBN 13: 9781786306401
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 240,43
EUR 9,02 Versand
Versand innerhalb von USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. 2021. 1st Edition. Hardcover. . . . . . Books ship from the US and Ireland.
-
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware - To develop innovations in quantum engineering and nanosystems, designers need to adopt the expertise that has been developed in research laboratories. This requires a thorough understanding of the experimental measurement techniques and theoretical models, based on the principles of quantum mechanics.This book presents experimental methods enabling the development and characterization of materials at the nanometer scale, based on practical engineering cases, such as 5G and the interference of polarized light when applied for electromagnetic waves. Using the example of electromechanical, multi-physical coupling in piezoelectric systems, smart materials technology is discussed, with an emphasis on scale reduction and mechanical engineering applications.Statistical analysis methods are presented in terms of their usefulness in systems engineering for experimentation, characterization or design, since safety factors and the most advanced reliability calculation techniques are included from the outset. This book provides valuable support for teachers and researchers but is also intended for engineering students, working engineers and Master s students.
