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Plant of the gods(Chinese Edition)
Anbieter: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Paperback. Zustand: Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Pride and Prejudice (English and Chinese Edition)
Sprache: Englisch
Verlag: World Publishing Company Pub. Date :2008-05, 2008
ISBN 10: 7506296993 ISBN 13: 9787506296991
Anbieter: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Paperback. Zustand: Fair. No Jacket. Former library book; Readable copy. Pages may have considerable notes/highlighting. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Calcareous nannofossil succession from the Oligo-Miocene Peikangchi Section and revised stratigraphic correlation between northern and central Taiwan.
Erscheinungsdatum: 1979
Anbieter: Literaturhökerei Wiese, Hardegsen, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Proceedings of the Geological Society of China 22: 105-120, 3 figs, 2 pls 8vo, offprint.
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Polyarenes II (Volume 350)
Buch 65 von 84: Topics in Current ChemistryAnbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: Good. Volume 350. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,700grams, ISBN:9783319073019.
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My first art book (Usborne Press-known children's art books. the Central Academy of Fine Arts(Chinese Edition)
Sprache: Chinesisch
Verlag: Children art books. the Central, 2000
ISBN 10: 7507424693 ISBN 13: 9787507424690
Anbieter: Sell Books, Elland, YORKS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den Warenkorbhardcover. Zustand: Good. Our good condition books are generally good for reading but not for gifting or collecting. They could have imperfections such as creasing, fanning, inscriptions, margin notes, yellowing, staining on edge or cover or pages, bumps, scuffs, etc etc (sometimes multiple of these). It's a wide category that encompasses anything that isn't almost-new down to anything that is slightly better than poor. We would NOT recommend gifting Good books - these should be considered reading copies. Our books are dispatched from a Yorkshire former cotton mill. We list via barcode/ISBN so please note that the images are stock images and may not be the exact copy you receive, furthermore the details about edition and year might not be accurate as many publishers reuse the same ISBN for multiple editions and as we simply scan a barcode or enter an ISBN we do not check the validity of the edition data when listing. If you're looking for an exact edition please don't order (at least not without checking with us first, although we don't always have time to check). We aim to dispatch prompty, the service used will depend on order value and book size. We can ship to most countries, see our shipping policies. Payment is via Abe only.
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Advances in X-Ray Analysis
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: New. pp. 1334.
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Advances In X - Ray Analysis
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Data Mining
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: New. pp. 480.
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 35B
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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?????/??????
Sprache: Chinesisch
Verlag: China Bookster Publishing House, 2019
ISBN 10: 7506875381 ISBN 13: 9787506875387
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 35,51
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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MCQs for FRCOphth
Buch 35 von 41: Oxford Specialty Training: Revision TextsAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 99,65
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 228 pages. 6.25x9.25x0.75 inches. In Stock.
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 35
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 101,70
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MCQs for FRCOphth part 2
Buch 35 von 41: Oxford Specialty Training: Revision TextsAnbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. 2020. Paperback. . . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 35B | C. S. Barrett (u. a.) | Taschenbuch | iv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461365327 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 35B
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrument.
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 35b
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 35A and 35B
Verlag: Springer, 1992
Anbieter: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Good. 2 Volumes, 1334 pp., hardcover, ex library, else text and bindings clean and tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
