Ting j s (16 Ergebnisse)
Pride and Prejudice (English and Chinese Edition)
( YING ) AO SI TING (Austen J.) SHENG SHI JIAO YU XI FANG MING FAN YI WEI YUAN HUI / SHENG SHI JI.
Sprache: Englisch
Verlag: World Publishing Company Pub. Date :2008-05, 2008
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In den WarenkorbProceedings of the Geological Society of China 22: 105-120, 3 figs, 2 pls 8vo, offprint.
My first art book (Usborne Press-known children's art books. the Central Academy of Fine Arts(Chinese Edition)
( YING ) DI JIN SI ZHU , ( YING ) HUO PU MAN HUI , GAO TING TING
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Sprache: Englisch
Verlag: Oxford Univ Pr, 2020
Serie: Buch 35 von 41 - Oxford Specialty Training: Revision Texts
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Paperback. Zustand: Brand New. 228 pages. 6.25x9.25x0.75 inches. In Stock.
Sprache: Englisch
Verlag: Oxford University Press, 2020
Serie: Buch 35 von 41 - Oxford Specialty Training: Revision Texts
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 35B | C. S. Barrett (u. a.) | Taschenbuch | iv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461365327 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Ins…trumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials.… Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.
