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Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrument.

Bestandsnummer des Verkäufers 897687730

Titel
Advances in X-Ray Analysis
Autor
Barrett, Charles S.|Gilfrich, John V.|Huang, Ting C.|Jenkins, Ron|McCarthy, G. J.|Predecki, Paul K.|Ryon, R.|Smith, Deane K.
Verlag
Springer, Berlin
Veröffentlichungsjahr
1992
Zustand
New
Einband
Gebunden
Sprache
Englisch
ISBN-10
0306442493
ISBN-13
9780306442490
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