Advances in X-Ray Analysis: Volume 35B: v. 35 - Hardcover

 
9780306442490: Advances in X-Ray Analysis: Volume 35B: v. 35
Hardcover
ISBN 10: 0306442493 ISBN 13: 9780306442490
Verlag: Springer, 1992

Inhaltsangabe

Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.

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Reseña del editor

The proceedings of the combined First Pacific-International Congress on X-Ray Analytical Methods (PICXAM) and Fortieth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, held in Hilo and Honolulu Hawaii, August 1991, comprise reports on the latest developments in international research on X-ray fl

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Verlag
Springer
Erscheinungsdatum
1992
Sprache
Englisch
ISBN 10 
0306442493
ISBN 13 
9780306442490
Einband
Tapa dura
Anzahl der Seiten
648
Herausgeber
Barrett C.S., Gilfrich John V., Huang Ting C.
Kontakt zum Hersteller
Nicht verfügbar
Verantwortliche Person
CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
https://www.also.com/ec/cms5/en_6000/6000/index.jsp

Friedrich-Karl-Str. 9
Hamburg
Deutschland

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