Thilo glatzel (18 Ergebnisse)
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Verlag: Springer, 2018
Serie: Springer Series in Surface Sciences, Buch 24 von 30. Buch 24 von 30 - Springer Series in Surface Sciences
- Hardcover
Anbieter: Bookbot, Prague, TschechienBookbot
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Hardcover. Zustand: Fine. Leichte Kratzer / Abnutzungen / Druckstellen; Abnutzung / Risse - leicht; Gebrochener Buchrücken / Seiten oder Softcover umgeknickt. This book provides a comprehensive introduction to the methods and variety of Kelvin probe force microscopy, including technical details. It also offers an overview of the… recent developments and numerous applications, ranging from semiconductor materials, nanostructures and devices to sub-molecular and atomic scale electrostatics. In the last 25 years, Kelvin probe force microscopy has developed from a specialized technique applied by a few scanning probe microscopy experts into a tool used by numerous research and development groups around the globe. This sequel to the editors' previous volume "Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces," presents new and complementary topics. It is intended for a broad readership, from undergraduate students to lab technicians and scanning probe microscopy experts who are new to the field.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2013
Serie: Springer Series in Surface Sciences, Buch 2 von 30. Buch 2 von 30 - Springer Series in Surface Sciences
- Softcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2011
Serie: Springer Series in Surface Sciences, Buch 2 von 30. Buch 2 von 30 - Springer Series in Surface Sciences
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2013
Serie: Springer Series in Surface Sciences, Buch 2 von 30. Buch 2 von 30 - Springer Series in Surface Sciences
- Softcover
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Zustand: New.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2011
Serie: Springer Series in Surface Sciences, Buch 2 von 30. Buch 2 von 30 - Springer Series in Surface Sciences
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2013
Serie: Springer Series in Surface Sciences, Buch 2 von 30. Buch 2 von 30 - Springer Series in Surface Sciences
- Softcover
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Kelvin Probe Force Microscopy | Measuring and Compensating Electrostatic Forces | Sascha Sadewasser (u. a.) | Taschenbuch | Springer Series in Surface Sciences | xiv | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9783642271137 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heid…elberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2013
Serie: Springer Series in Surface Sciences, Buch 2 von 30. Buch 2 von 30 - Springer Series in Surface Sciences
- Softcover
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Paperback. Zustand: Brand New. 2012 edition. 290 pages. 9.25x6.10x0.79 inches. In Stock.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Verlag, 2011
Serie: Springer Series in Surface Sciences, Buch 2 von 30. Buch 2 von 30 - Springer Series in Surface Sciences
- Hardcover
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Hardcover. Zustand: Brand New. 2012 edition. 345 pages. 9.25x6.25x1.00 inches. In Stock.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Springer, 2013
Serie: Springer Series in Surface Sciences, Buch 2 von 30. Buch 2 von 30 - Springer Series in Surface Sciences
- Softcover
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. This book gives a concise introduction into the method and describes various experimental techniques. Surface poten…tial studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials. The current state of surface potential at the atomic scale is also considered. This book presents an excellent introduction for the newcomer to this field, as much as a valuable resource for the expert.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Vieweg, Springer, 2011
Serie: Springer Series in Surface Sciences, Buch 2 von 30. Buch 2 von 30 - Springer Series in Surface Sciences
- Hardcover
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. This book gives a concise introduction into the method and describes various experimental techniques. Surface potential st…udies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials. The current state of surface potential at the atomic scale is also considered. This book presents an excellent introduction for the newcomer to this field, as much as a valuable resource for the expert.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2019
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- Softcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2018
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- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2018
Serie: Springer Series in Surface Sciences, Buch 24 von 30. Buch 24 von 30 - Springer Series in Surface Sciences
- Hardcover
Anbieter: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, DeutschlandBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer
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Hardcover. Zustand: gut. 2018. Springer Series in Surface Sciences - 65: Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization In deutscher Sprache. pages.
Sprache: Englisch
Verlag: Cham, Springer, 2018
Serie: Springer Series in Surface Sciences, Buch 24 von 30. Buch 24 von 30 - Springer Series in Surface Sciences
- Hardcover
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Hardcover. xxiv, 521 S. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. Ex-library in GOOD condition with library-signature and stamp(s). Some traces of use. R-16212 9783319756868 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1050.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2019
Serie: Springer Series in Surface Sciences, Buch 24 von 30. Buch 24 von 30 - Springer Series in Surface Sciences
- Softcover
Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschlandpreigu
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Kelvin Probe Force Microscopy | From Single Charge Detection to Device Characterization | Sascha Sadewasser (u. a.) | Taschenbuch | xxiv | Englisch | 2019 | Springer | EAN 9783030092986 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[…at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland, 2019
Serie: Springer Series in Surface Sciences, Buch 24 von 30. Buch 24 von 30 - Springer Series in Surface Sciences
- Softcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
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EUR 235,39
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book provides a comprehensive introduction to the methods and variety of Kelvin probe force microscopy, including technical details. It also offers an overview of the recent developments and numerous applications, ranging from semiconductor mate…rials, nanostructures and devices to sub-molecular and atomic scale electrostatics.In the last 25 years, Kelvin probe force microscopy has developed from a specialized technique applied by a few scanning probe microscopy experts into a tool used by numerous research and development groups around the globe. This sequel to the editors' previous volume 'Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces,' presents new and complementary topics.It is intended for a broad readership, from undergraduate students to lab technicians and scanning probe microscopy experts who are new to the field.
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Verlag: Springer, 2018
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book provides a comprehensive introduction to the methods and variety of Kelvin probe force microscopy, including technical details. It also offers an overview of the recent developments and numerous applications, ranging from semiconductor materials,…nanostructures and devices to sub-molecular and atomic scale electrostatics.In the last 25 years, Kelvin probe force microscopy has developed from a specialized technique applied by a few scanning probe microscopy experts into a tool used by numerous research and development groups around the globe. This sequel to the editors' previous volume 'Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces,' presents new and complementary topics.It is intended for a broad readership, from undergraduate students to lab technicians and scanning probe microscopy experts who are new to the field.
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Hardcover. Zustand: Brand New. 521 pages. 9.50x6.25x1.25 inches. In Stock.
