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Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces (Springer Series in Surface Sciences, 48)
Buch 2 von 30: Springer Series in Surface SciencesAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 115,52
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Hardcover. Zustand: Fine. Leichte Kratzer / Abnutzungen / Druckstellen; Leichte Rillen / Abschürfungen / Risse / Knicke; Gebrochener Buchrücken. This book provides a comprehensive introduction to the methods and variety of Kelvin probe force microscopy, including technical details. It also offers an overview of the recent developments and numerous applications, ranging from semiconductor materials, nanostructures and devices to sub-molecular and atomic scale electrostatics. In the last 25 years, Kelvin probe force microscopy has developed from a specialized technique applied by a few scanning probe microscopy experts into a tool used by numerous research and development groups around the globe. This sequel to the editors' previous volume "Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces," presents new and complementary topics. It is intended for a broad readership, from undergraduate students to lab technicians and scanning probe microscopy experts who are new to the field.
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Kelvin Probe Force Microscopy
Buch 2 von 30: Springer Series in Surface SciencesSprache: Englisch
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2013
ISBN 10: 3642271138 ISBN 13: 9783642271137
EUR 92,27
EUR 48,99 Versand
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Kelvin Probe Force Microscopy
Buch 2 von 30: Springer Series in Surface SciencesSprache: Englisch
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2011
ISBN 10: 3642225659 ISBN 13: 9783642225659
EUR 92,27
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Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces (Springer Series in Surface Sciences, 48)
Buch 2 von 30: Springer Series in Surface SciencesAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 152,15
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Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces (Springer Series in Surface Sciences)
Buch 2 von 30: Springer Series in Surface SciencesAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 153,14
EUR 14,47 Versand
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 2012 edition. 290 pages. 9.25x6.10x0.79 inches. In Stock.
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Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Buch 2 von 30: Springer Series in Surface SciencesAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 154,59
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 2012 edition. 345 pages. 9.25x6.25x1.00 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Kelvin Probe Force Microscopy | Measuring and Compensating Electrostatic Forces | Sascha Sadewasser (u. a.) | Taschenbuch | Springer Series in Surface Sciences | xiv | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9783642271137 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Buch 2 von 30: Springer Series in Surface SciencesAnbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. This book gives a concise introduction into the method and describes various experimental techniques. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials. The current state of surface potential at the atomic scale is also considered. This book presents an excellent introduction for the newcomer to this field, as much as a valuable resource for the expert.
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Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Buch 2 von 30: Springer Series in Surface SciencesSprache: Englisch
Verlag: Springer Vieweg, Springer, 2011
ISBN 10: 3642225659 ISBN 13: 9783642225659
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. This book gives a concise introduction into the method and describes various experimental techniques. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials. The current state of surface potential at the atomic scale is also considered. This book presents an excellent introduction for the newcomer to this field, as much as a valuable resource for the expert.
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (Springer Series in Surface Sciences, 65)
Buch 24 von 30: Springer Series in Surface SciencesAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 200,99
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (Springer Series in Surface Sciences, 65)
Buch 24 von 30: Springer Series in Surface SciencesAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Kelvin probe force microscopy. From single charge detection to device characterization.
Buch 24 von 30: Springer Series in Surface SciencesAnbieter: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. xxiv, 521 S. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. Ex-library in GOOD condition with library-signature and stamp(s). Some traces of use. R-16212 9783319756868 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1050.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Kelvin Probe Force Microscopy | From Single Charge Detection to Device Characterization | Sascha Sadewasser (u. a.) | Taschenbuch | xxiv | Englisch | 2019 | Springer | EAN 9783030092986 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization
Buch 24 von 30: Springer Series in Surface SciencesSprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland, 2019
ISBN 10: 3030092984 ISBN 13: 9783030092986
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book provides a comprehensive introduction to the methods and variety of Kelvin probe force microscopy, including technical details. It also offers an overview of the recent developments and numerous applications, ranging from semiconductor materials, nanostructures and devices to sub-molecular and atomic scale electrostatics.In the last 25 years, Kelvin probe force microscopy has developed from a specialized technique applied by a few scanning probe microscopy experts into a tool used by numerous research and development groups around the globe. This sequel to the editors' previous volume 'Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces,' presents new and complementary topics.It is intended for a broad readership, from undergraduate students to lab technicians and scanning probe microscopy experts who are new to the field.
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Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization
Buch 24 von 30: Springer Series in Surface SciencesAnbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book provides a comprehensive introduction to the methods and variety of Kelvin probe force microscopy, including technical details. It also offers an overview of the recent developments and numerous applications, ranging from semiconductor materials, nanostructures and devices to sub-molecular and atomic scale electrostatics.In the last 25 years, Kelvin probe force microscopy has developed from a specialized technique applied by a few scanning probe microscopy experts into a tool used by numerous research and development groups around the globe. This sequel to the editors' previous volume 'Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces,' presents new and complementary topics.It is intended for a broad readership, from undergraduate students to lab technicians and scanning probe microscopy experts who are new to the field.
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization
Buch 24 von 30: Springer Series in Surface SciencesAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 346,14
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 521 pages. 9.50x6.25x1.25 inches. In Stock.
