Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, 2018

3319756869 / 9783319756868

Serie: Buch 24 von 30 - Springer Series in Surface Sciences

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Titel
Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization
Autor
Sadewasser, Sascha (Edited by)/ Glatzel, Thilo (Edited by)
Verlag
Springer
Veröffentlichungsjahr
2018
Zustand
Brand New
Einband
Hardcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
3319756869
ISBN-13
9783319756868
Artikelgewicht
8,86 Kilogramm
Serie
Buch 24 von 30: Springer Series in Surface Sciences

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