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Photo-Induced Defects in Semiconductors (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4)
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521461960 ISBN 13: 9780521461962
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,550grams, ISBN:0521461960.
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Photo-induced Defects in Semiconductors (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4)
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521461960 ISBN 13: 9780521461962
Anbieter: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: Good. Your purchase helps support Sri Lankan Children's Charity 'The Rainbow Centre'. Ex-library, so some stamps and wear, but in good overall condition. Our donations to The Rainbow Centre have helped provide an education and a safe haven to hundreds of children who live in appalling conditions.
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Photoinduced Defects in Semiconductors.
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbSoftcover/Paperback. Zustand: Sehr gut. x, 217 p. Very good. Shrink wrapped. / Sehr guter Zustand. In Folie verschweißt. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 371.
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Photo-induced Defects in Semiconductors (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4) (Volume 0)
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: Good. Used - Good. Your purchase helps support Sri Lankan Children's Charity 'The Rainbow Centre.' Ex-library, but has been well cared for. Our donations to The Rainbow Centre have helped provide an education and a safe haven to hundreds of children who live in appalling conditions.
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Photo-induced Defects Semiconductrs (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering)
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: Labyrinth Books, Princeton, NJ, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Very Good.
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Utter
Verlag: Hawthorn Press, Syderstone, 2010
Anbieter: Dodman Books, Morston, Vereinigtes Königreich
Verbandsmitglied: IOBA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbSoft cover. Zustand: Very Good. No Jacket. Diane Griffiths (illustrator). 1st Edition. Scare collection. VG/near-fine throughout. This is a charity sale on behalf of Friends of Morston Church (reg.1099831). 8vo. 32pp.
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![Beispielbild für De Celestijnse belofte. Een spiritueel avontuur [9CDs]. zum Verkauf von Antiquariaat Schot](https://pictures.abebooks.com/isbn/9789052860121-de-300.jpg)
De Celestijnse belofte. Een spiritueel avontuur [9CDs].
Sprache: Niederländisch
Verlag: Baarn, De Boekerij. 2009, 2010
ISBN 10: 9052860122 ISBN 13: 9789052860121
Anbieter: Antiquariaat Schot, Hendrik-Ido-Ambacht, Niederlande
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Original publisher's cover, pictorial frontcover, large 8vo: 9 CDs - 650 minutes. Very fine copy - as new. Still shrink-wrapped. Luisterboek.
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Photo-induced Defects in Semiconductors (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4) (Volume 0)
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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The Natural World/2
Verlag: Silver Burdett Company, 1976
Anbieter: Redux Books, Grand Rapids, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: Good. Good hardcover.SCARCE. No DJ. Pages have very light marking.Foxing on page ends. Covers show light edge wear with rubbing/light scuffing. Binding is tight, strong.; 100% Satisfaction Guaranteed! Ships same or next business day!
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Photo-induced Defects Semiconductrs: 4 (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4)
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. A thorough review of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors. Series Editor(s): Ahmad, Haroon; Pepper, Michael; Broers, Alec. Series: Cambridge Studies in Semiconductor Physics & Microelectronic Engineering. Num Pages: 232 pages, 106 b/w illus. BIC Classification: PHK; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 229 x 152 x 13. Weight in Grams: 350. . 2008. 1st Edition. paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Photo-induced Defects in Semiconductors (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4)
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521461960 ISBN 13: 9780521461962
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 104,65
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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Photo-induced Defects in Semiconductors
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2016
ISBN 10: 0521461960 ISBN 13: 9780521461962
Zustand: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Photoinduced Defects in Semiconductors is the first book to give a complete overview of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors that can be created or destroyed by light.
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Photo-induced Defects in Semiconductors: 4 (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4)
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521461960 ISBN 13: 9780521461962
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 148,26
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In den WarenkorbZustand: New. A thorough review of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors. Series: Cambridge Studies in Semiconductor Physics & Microelectronic Engineering. Num Pages: 230 pages, 106 b/w illus. BIC Classification: PHFC; PHK. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 228 x 152 x 17. Weight in Grams: 491. . 1996. Illustrated. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Photo-Induced Defects in Semiconductors
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This is the first book to give a complete overview of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors. Such comparatively long-lived (or metastable) defects exhibit complex interactions with the surrounding material, and can significantly affect the performance and stability of certain semiconductor devices. After an introductory discussion of metastable defects, the properties of DX and EL2 centres in III-V compounds are presented. Additional crystalline materials are also dealt with, before a detailed description is given of the properties and kinetics of photo-induced defects in amorphous semiconductors. The book closes with an examination of the effects of photo-induced defects in a range of practical applications. Throughout, unifying concepts and models are stressed, and the book will be of great use to graduate students and researchers interested in the physics and materials science of semiconductors.
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Photo-induced Defects in Semiconductors
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 163,31
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 217 pages. 9.50x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Photo-induced Defects in Semiconductors
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521461960 ISBN 13: 9780521461962
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This is the first book to give a complete overview of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors. Such comparatively long-lived (or metastable) defects exhibit complex interactions with the surrounding material, and can significantly affect the performance and stability of certain semiconductor devices. After an introductory discussion of metastable defects, the properties of DX and EL2 centres in III-V compounds are presented. Additional crystalline materials are also dealt with, before a detailed description is given of the properties and kinetics of photo-induced defects in amorphous semiconductors. The book closes with an examination of the effects of photo-induced defects in a range of practical applications. Throughout, unifying concepts and models are stressed, and the book will be of great use to graduate students and researchers interested in the physics and materials science of semiconductors.
