Photo-induced Defects in Semiconductors Hardback: 4 (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4) - Hardcover

Redfield; Bube

 
9780521461962: Photo-induced Defects in Semiconductors Hardback: 4 (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4)
Hardcover
ISBN 10: 0521461960 ISBN 13: 9780521461962
Verlag: Cambridge University Press, 1996

Inhaltsangabe

A thorough review of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors.

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Über die Autorin bzw. den Autor

Charlotte y Peter Fiell son dos autoridades en historia, teoría y crítica del diseño y han escrito más de sesenta libros sobre la materia, muchos de los cuales se han convertido en éxitos de ventas. También han impartido conferencias y cursos como profesores invitados, han comisariado exposiciones y asesorado a fabricantes, museos, salas de subastas y grandes coleccionistas privados de todo el mundo. Los Fiell han escrito numerosos libros para TASCHEN, entre los que se incluyen 1000 Chairs, Diseño del siglo XX, El diseño industrial de la A a la Z, Scandinavian Design y Diseño del siglo XXI.

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Photoinduced Defects in Semiconductors is the first book to give a complete overview of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors that can be created or destroyed by light.

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Verlag
Cambridge University Press
Erscheinungsdatum
1996
Sprache
Englisch
ISBN 10 
0521461960
ISBN 13 
9780521461962
Einband
Tapa dura
Anzahl der Seiten
240
Kontakt zum Hersteller
Nicht verfügbar
Verantwortliche Person
Avery
https://www.avery.fr/

chemin des peupliers 27
Dardilly
Frankreich

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