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Photo-induced Defects in Semiconductors (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, 4, Band 4) - Hardcover
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering
Inhaltsangabe
A thorough review of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors.
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Photoinduced Defects in Semiconductors is the first book to give a complete overview of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors that can be created or destroyed by light.
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Photo-induced Defects in Semiconductors: 4 (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4)
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Photo-induced Defects in Semiconductors: 4 (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4)
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Cambridge University Press -, 1996
ISBN 10: 0521461960
ISBN 13: 9780521461962
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Photo-induced Defects in Semiconductors (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4)
Verlag:
Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521461960
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Photo-Induced Defects in Semiconductors
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Cambridge University Press, 1996
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Photo-Induced Defects in Semiconductors
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Cambridge University Press, 1996
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ISBN 13: 9780521461962
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Photo-Induced Defects in Semiconductors (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4)
Verlag:
Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521461960
ISBN 13: 9780521461962
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Zustand: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,550grams, ISBN:0521461960. Artikel-Nr. 5838260
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Photo-induced Defects in Semiconductors
Verlag:
Cambridge University Press, 2016
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ISBN 13: 9780521461962
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Photo-induced Defects in Semiconductors (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4)
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Zustand: New. A thorough review of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors. Series: Cambridge Studies in Semiconductor Physics & Microelectronic Engineering. Num Pages: 230 pages, 106 b/w illus. BIC Classification: PHFC; PHK. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 228 x 152 x 17. Weight in Grams: 491. . 1996. Illustrated. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland. Artikel-Nr. V9780521461962
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