Juin liou (53 Ergebnisse)
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Zustand: Good. Your purchase helps support Sri Lankan Children's Charity 'The Rainbow Centre'. Ex-library, so some stamps and wear, but in good overall condition. Our donations to The Rainbow Centre have helped provide an education and a safe haven to hundreds of children who live in appalling conditions.
On-Chip Electro-Static Discharge (ESD) Protection for Radio-Frequency Integrated Circuits
Cui, Qiang; Liou, Juin J.; Hajjar, Jean-Jacques; Salcedo, Javier; Zhou, Yuanzhong; Srivatsan, Parthasarathy
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Zustand: New. pp. 320.
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Zustand: Good. Your purchase helps support Sri Lankan Children's Charity 'The Rainbow Centre'. Ex-library, so some stamps and wear, but in good overall condition. Our donations to The Rainbow Centre have helped provide an education and a safe haven to hundreds of children who live in appalling conditions.
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On-Chip Electro-Static Discharge (ESD) Protection for Radio-Frequency Integrated Circuits
Cui, Qiang; Liou, Juin J.; Hajjar, Jean-Jacques; Salcedo, Javier; Zhou, Yuanzhong; Srivatsan, Parthasarathy
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ESD Design and Analysis Handbook
Vinson, James E.; Bernier, Joseph C.; Croft, Gregg D.; Juin Jei Liou
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Zustand: New. In.
ESD Design and Analysis Handbook
Vinson, James E. E.; Bernier, Joseph C.; Croft, Gregg D.; Juin Jei Liou
- Softcover
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Zustand: New. pp. 250.
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Zustand: Fair. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In fair condition, suitable as a study copy. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,700grams, ISBN:9789814241083.
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Zustand: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Hardcover. Zustand: Brand New. 220 pages. 9.75x7.00x0.75 inches. In Stock.
On-chip Electro-static Discharge Protection for Radio-frequency Integrated Circuits
Cui, Qiang/ Liou, Juin J./ Hajjar, Jean-jacques/ Salcedo, Javier/ Zhou, Yuanzhong
- Softcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
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Paperback. Zustand: Brand New. reprint edition. 104 pages. 9.25x6.10x0.25 inches. In Stock.
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Zustand: New. In.
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Paperback. Zustand: Brand New. 2nd new edition. 320 pages. 9.21x6.14x0.67 inches. In Stock.
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Zustand: New. Juin J. Liou received his BS (honors), MS, and Ph.D in electrical engineering from the University of Florida, Gainesville, in 1982, 1983, and 1987, respectively. In 1987, he joined the University of Central Florida (UCF), Orlando, where .
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Hardcover. Zustand: Brand New. 2015 edition. 86 pages. 9.25x6.25x0.50 inches. In Stock.
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Hardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 207 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Zustand: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 372 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Analysis and Design of MOSFETs: Modeling, Simulation, and Parameter Extraction is the first book devoted entirely to a broad spectrum of analysis and design issues related to the semiconductor device called metal-oxide semiconductor field-effect…transistor (MOSFET). These issues include MOSFET device physics, modeling, numerical simulation, and parameter extraction. The discussion of the application of device simulation to the extraction of MOSFET parameters, such as the threshold voltage, effective channel lengths, and series resistances, is of particular interest to all readers and provides a valuable learning and reference tool for students, researchers and engineers. Analysis and Design of MOSFETs: Modeling, Simulation, and Parameter Extraction, extensively referenced, and containing more than 180 illustrations, is an innovative and integral new book on MOSFETs design technology.
- Hardcover
Anbieter: Buchpark, Trebbin, DeutschlandBuchpark
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EUR 55,07
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Zustand: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 372 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Analysis and Design of MOSFETs: Modeling, Simulation, and Parameter Extraction is the first book devoted entirely to a broad spectrum of analysis and design issues related to the semiconductor device called metal-oxide semiconductor field-effect…transistor (MOSFET). These issues include MOSFET device physics, modeling, numerical simulation, and parameter extraction. The discussion of the application of device simulation to the extraction of MOSFET parameters, such as the threshold voltage, effective channel lengths, and series resistances, is of particular interest to all readers and provides a valuable learning and reference tool for students, researchers and engineers. Analysis and Design of MOSFETs: Modeling, Simulation, and Parameter Extraction, extensively referenced, and containing more than 180 illustrations, is an innovative and integral new book on MOSFETs design technology.
Analysis and Design of MOSFETs: Modeling, Simulation, and Parameter Extraction
Juin Jei Liou, Juin Jei; Ortiz-Conde, Adelmo; Garcia-Sanchez, Francisco
- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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EUR 165,92
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Zustand: New. In.
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Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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EUR 165,92
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Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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EUR 165,92
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Zustand: New. In.
Analysis and Design of MOSFETs: Modeling, Simulation, and Parameter Extraction (Software Engineering; 4)
Juin Jei Liou; Ortiz-Conde, Adelmo; Garcia-Sanchez, Francisco
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Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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EUR 165,92
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Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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