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The University Next Door: What Is a Comprehensive University, Who Does It Educate, and Can It Survive?
Anbieter: World of Books (was SecondSale), Montgomery, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Very Good. Item in very good condition! Textbooks may not include supplemental items i.e. CDs, access codes etc.
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The University Next Door: What Is a Comprehensive University, Who Does It Educate, and Can It Survive?
Anbieter: Books From California, Simi Valley, CA, USA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
paperback. Zustand: Very Good.
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The University Next Door: What Is a Comprehensive University, Who Does It Educate, and Can It Survive?
Anbieter: Books From California, Simi Valley, CA, USA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
paperback. Zustand: Fine.
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Advances in X-Ray Analysis
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Advances In X - Ray Analysis
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 35B
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 36
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 60,51
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The University Next Door
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbHRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Advances in X-Ray Analysis
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 38
Anbieter: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Very Good. 813 pp., hardcover, minor library markings else text clean & binding tight (lacks dust jacket). - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country. Photos available upon request.
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The University Next Door What Is a Comprehensive University, Who Does It Educate, and Can It Survive?
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 245 pages. 9.50x6.75x0.75 inches. In Stock.
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The University Next Door: What? Is a Comprehensive University, Who Does it Educate, and Can it Survive?
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 94,36
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The University Next Door: What Is a Comprehensive University, Who Does It Educate, and Can It Survive?
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 91,02
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 36
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 93,46
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 35
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 101,70
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The University Next Door: What? Is a Comprehensive University, Who Does It Educate, and Can It Survive?
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 110,98
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In den WarenkorbZustand: New. Editor(s): Schneider, Mark; Deane, K. C. Num Pages: 256 pages. BIC Classification: JNA; JNM. Category: (G) General (US: Trade). Dimension: 229 x 156 x 20. Weight in Grams: 499. . 2014. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 35B | C. S. Barrett (u. a.) | Taschenbuch | iv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461365327 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 36 | John V. Gilfrich (u. a.) | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2012 | Springer US | EAN 9781461362937 | Verantwortliche Person für die EU: Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, productsafety[at]springernature[dot]com | Anbieter: preigu.
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 35B
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 36
Sprache: Englisch
Verlag: Springer US, Springer New York, 2012
ISBN 10: 1461362938 ISBN 13: 9781461362937
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The 41st Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis was held August 3-7, 1992, at the Sheraton Colorado Springs Hotel, Colorado Springs, Colorado. The Conference is recognized to be a major event in the x-ray analysis field, bringing together scientists and engineers from around the world to discuss the state of the art in x-ray applications as well as indications for further developments. In recent years, one of the most exciting and important developments in the x-ray field has been the applications of grazing-incidence x-rays for surface and thin-film analysis. To introduce the conference attendees to these 'leading-edge' developments, the topic for the Plenary Session was 'Grazing-Incidence X Ray Characterization of Materials. ' The Conference had the privilege of inviting leading experts in the field of x-ray thin film analysis to deliver lectures at the Plenary Session. Dr. D. K. Bowen, University of Warwick, U. K. , opened the session with a lecture on 'Grazing Incidence X-Ray Scattering from Thin Films. ' He reviewed and compared grazing incidence diffraction, fluorescence and reflectivity techniques. Results of experimental and theoretical analysis were also discussed. Dr. B. Lenge1er, Forchungszentrum Ju1ich, Germany, followed with a lecture on 'Grazing Incidence Diffuse X-Ray Scattering from Thin Films. ' He concentrated on the use of newly developed 'off-specular' reflectivity techniques for the determination of vertical roughness, lateral correlation length and contour exponent on surfaces.
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Zustand: New. The challenges public comprehensive universities face today are expanding. While these universities have a long history of adapting to change, today s environment will likely test the capabilities of even the most adaptive institutions. This volume assemble.
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Mathematical Techniques in XRay Spectrometry: Research in the Quantitative Analysis of Individual Particles by XRay Fluorescence Spectrometry (M. Lankosz et al.). Analysis of Light Elements by XRay Spectrometry: XRFA of Carbon in Steels (F. Weber et al.). X.
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EUR 104,18
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrument.
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 36
Anbieter: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Good. 710 pp., hardcover, ex library, else text and binding clean and tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country. Photos available upon request.
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Advances in X-Ray Analysis: Vol 36
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 149,86
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 712 pages. 10.50x7.50x1.50 inches. In Stock.
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Advances in X-Ray Analysis
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Mathematical Techniques in XRay Spectrometry: Research in the Quantitative Analysis of Individual Particles by XRay Fluorescence Spectrometry (M. Lankosz et al.). Analysis of Light Elements by XRay Spectrometry: XRFA of Carbon in Steels (F. Weber et al.). XRS Techniques and Instrumentation: Diffraction Peaks in XRay Spectroscopy (R.G.Tissot, R.P. Goehner). OnLine, Industrial, and Other Applications of XRS: Application of XRF in the Aluminum Industry (F.R. Feret). XRay Characterization of Thin Films: Grazing Incidence XRay Characterization of Materials (D.K. Bowen, M. Wormington). WholePattern Fitting, Phase Analysis by Diffraction Methods: Phase Identification Using WholePattern Matching (D.K. Smith et al.). Polymer Applications of XRD. HighTemperature and NonAmbient Applications of XRD. Stress and Strain Determination by Diffraction Methods, Peak Broadening Analysis. XRD Techniques and Instrumentation. 71 additional articles. Index.
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 35b
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 38
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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EUR 310,59
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EUR 338,28
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. The 43rd Annual Conference on Applications ofX-ray Analysis was held August 1-5, 1994, at the Sheraton Steamboat Resort & Conference Center in Steamboat Springs, Colorado. The Denver X-Ray Conference has evolved from the 1950 s into an international forum f.
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Proceedings of the Forty-fourth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis held in Colorado, Springs, Colorado, July 31-August 4, 1995 The 39th Denver Conference on Applications of X-ray Analysis was held July 31-August 4, 1995, at the Sherat.
