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System on Chip: Next Generation Electronics (Volume 18)
Sprache: Englisch
Verlag: Institution Of Engineering And Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: Good. Volume 18. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1550grams, ISBN:9780863415524.
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System-on-Chip: Next Generation Electronics (Volume 18)
Sprache: Englisch
Verlag: Institution Of Engineering And Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 12,12
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In den WarenkorbZustand: Fair. Volume 18. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In fair condition, suitable as a study copy. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1550grams, ISBN:9780863415524.
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System on Chip: Next Generation Electronics (Volume 18)
Sprache: Englisch
Verlag: Institution Of Engineering And Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 16,39
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In den WarenkorbZustand: Good. Volume 18. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1550grams, ISBN:9780863415524.
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System-level Design Techniques For Energy-efficient Embedded Systems
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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The Art of Simulation Using PSpice: Analog and Digital (Electronic Engineering Systems)
Buch 7 von 9: Electronic Engineering SystemsAnbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 65,82
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In den WarenkorbZustand: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. No dust jacket. Library sticker on front cover. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,650grams, ISBN:0849378958.
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System on Chip : Next Generation Electronics
Verlag: The Institution of Electrical Engineers, London, 2006
Anbieter: PsychoBabel & Skoob Books, Didcot, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 40,96
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In den Warenkorbhardcover. Zustand: Very Good. Zustand des Schutzumschlags: No Dust Jacket. Hard cover with no jacket. Book is in very good condition. Very light wear in a few places at edges and corners. Previous owner's name to FEP. Thin mark vertically down inside of cover. Contents are otherwise clean, bright and tight. J. Used.
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B)
Buch 11 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 114,52
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B)
Buch 11 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 130,43
EUR 7,52 Versand
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In den WarenkorbZustand: New. pp. 220 Illus.
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 141,16
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System-on-Chip: Next generation electronics (Materials, Circuits and Devices)
Sprache: Englisch
Verlag: The Institution of Engineering and Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 142,37
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Buch 11 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 148,52
EUR 11,56 Versand
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 180 pages. 9.25x6.10x0.44 inches. In Stock.
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Power-Constrained Testing of VLSI Circuits | A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard | Bashir M. Al-Hashimi (u. a.) | Taschenbuch | xi | Englisch | 2010 | Springer US | EAN 9781441953155 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Buch 11 von 40: Frontiers in Electronic TestingSprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 2003
ISBN 10: 140207235X ISBN 13: 9781402072352
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. This text surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 189 pages, biography. BIC Classification: TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 297 x 210 x 12. Weight in Grams: 990. . 2003. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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System-level Design Techniques for Energy-efficient Embedded Systems
Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 2003
ISBN 10: 1402077505 ISBN 13: 9781402077500
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Addresses the development and validation of co-synthesis techniques that allow an effective design of embedded systems with low energy dissipation. This book provides an overview of a system-level co-design flow, illustrating how system performance is influenced at various steps of the flow including allocation, mapping, and scheduling. Num Pages: 194 pages, biography. BIC Classification: TJFD1. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 235 x 155 x 14. Weight in Grams: 1080. . 2003. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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EUR 124,02
EUR 48,99 Versand
Versand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems addresses the development and validation of co-synthesis techniques that allow an effective design of embedded systems with low energy dissipation. The book provides an overview of a syste.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Buch 11 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Minimization of power dissipation in very large scale integrated (VLSI) circuits is important to improve reliability and reduce packaging costs. While many techniques have investigated power minimization during the functional (normal) mode of operation, it is important to examine the power dissipation during the test circuit activity is substantially higher during test than during functional operation. For example, during the execution of built-in self-test (BIST) in-field sessions, excessive power dissipation can decrease the reliability of the circuit under test due to higher temperature and current density.Power-Constrained Testing of VLSI Circuits focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. The first part of this book surveys the existing techniques for power constrained testing of VLSI circuits. In the second part, several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths are presented.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Buch 11 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Minimization of power dissipation in very large scale integrated (VLSI) circuits is important to improve reliability and reduce packaging costs. While many techniques have investigated power minimization during the functional (normal) mode of operation, it is important to examine the power dissipation during the test circuit activity is substantially higher during test than during functional operation. For example, during the execution of built-in self-test (BIST) in-field sessions, excessive power dissipation can decrease the reliability of the circuit under test due to higher temperature and current density.Power-Constrained Testing of VLSI Circuits focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. The first part of this book surveys the existing techniques for power constrained testing of VLSI circuits. In the second part, several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths are presented.
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Many-Core Computing: Hardware and software (Computing and Networks)
Buch 9 von 16: Computing and NetworksSprache: Englisch
Verlag: The Institution of Engineering and Technology, 2019
ISBN 10: 1785615823 ISBN 13: 9781785615825
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 168,99
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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PFAS in the Environment
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 186,93
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In den WarenkorbHRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Many-core Computing: Hardware and Software
Buch 9 von 16: Computing and NetworksSprache: Englisch
Verlag: Inst of Engineering & Technology, 2019
ISBN 10: 1785615823 ISBN 13: 9781785615825
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 196,86
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 650 pages. 9.21x6.14x1.38 inches. In Stock.
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System-On-Chip: Next Generation Electronics
Sprache: Englisch
Verlag: INSTITUTION OF ENGINEERING & T, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
EUR 158,51
EUR 48,99 Versand
Versand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Über den AutorBashir M Al-Hashimi is Professor of Computing Engineering at the School of Electronics and Computer Science, University of Southampton, UK.Inhaltsverzeichnisrnrnn Part 1: System-level design.
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Many-Core Computing: Hardware and Software
Buch 9 von 16: Computing and NetworksSprache: Englisch
Verlag: Institution of Engineering & Technology, 2019
ISBN 10: 1785615823 ISBN 13: 9781785615825
Zustand: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Seiten: 600 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | The primary aim of this book is to provide a timely and coherent account of the recent advances in many-core computing research. Starting with programming models, operating systems and their applications; it presents runtime management techniques, followed by system modelling, verification and testing methods, and architectures and systems.
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System-on-Chip: Next Generation Electronics
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 222,04
EUR 17,35 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. illustrated edition. 944 pages. 9.25x6.50x2.25 inches. In Stock.
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Many-Core Computing: Hardware and Software
Buch 9 von 16: Computing and NetworksSprache: Englisch
Verlag: INSTITUTION OF ENGINEERING & T, 2019
ISBN 10: 1785615823 ISBN 13: 9781785615825
EUR 187,94
EUR 48,99 Versand
Versand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Inhaltsverzeichnisrnrnn Part I: Programming models, OS and applicationsn Chapter 1: HPC with many core processorsn Chapter 2: From irregular heterogeneous software to reconfigurable hardwaren Chapter 3: Operatin.
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PFAS in the Environment: Occurrence, Characterization, Treatment, and Management
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 236,55
EUR 7,52 Versand
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In den WarenkorbZustand: New.
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System-On-Chip: Next Generation Electronics
Sprache: Englisch
Verlag: Institution of Engineering & Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Buch. Zustand: Neu. System-On-Chip: Next Generation Electronics | Bashir M. Al-Hashimi | Buch | Materials, Circuits and Device | Gebunden | Englisch | 2006 | Institution of Engineering & Technology | EAN 9780863415524 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu.
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System-On-Chip: Next Generation Electronics
Sprache: Englisch
Verlag: Institution Of Engineering & Technology Jan 2006, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware - This book highlights both the key achievements of electronic systems design targeting SoC implementation style, and the future challenges presented by the continuing scaling of CMOS technology.
