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System on Chip: Next Generation Electronics (Volume 18)
Sprache: Englisch
Verlag: Institution Of Engineering And Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 11,27
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In den WarenkorbZustand: Good. Volume 18. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1550grams, ISBN:9780863415524.
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System-on-Chip: Next Generation Electronics (Volume 18)
Sprache: Englisch
Verlag: Institution Of Engineering And Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 12,12
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In den WarenkorbZustand: Fair. Volume 18. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In fair condition, suitable as a study copy. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1550grams, ISBN:9780863415524.
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System on Chip: Next Generation Electronics (Volume 18)
Sprache: Englisch
Verlag: Institution Of Engineering And Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 16,39
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In den WarenkorbZustand: Good. Volume 18. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1550grams, ISBN:9780863415524.
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System-level Design Techniques For Energy-efficient Embedded Systems
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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System on Chip : Next Generation Electronics
Verlag: The Institution of Electrical Engineers, London, 2006
Anbieter: PsychoBabel & Skoob Books, Didcot, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 40,97
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In den Warenkorbhardcover. Zustand: Very Good. Zustand des Schutzumschlags: No Dust Jacket. Hard cover with no jacket. Book is in very good condition. Very light wear in a few places at edges and corners. Previous owner's name to FEP. Thin mark vertically down inside of cover. Contents are otherwise clean, bright and tight. J. Used.
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 94,28
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In den WarenkorbZustand: Used. pp. 220 Illus.
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: Used. pp. 220.
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 115,42
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B)
Buch 11 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 115,42
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B)
Buch 11 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 142,26
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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System-on-Chip: Next generation electronics (Materials, Circuits and Devices)
Sprache: Englisch
Verlag: The Institution of Engineering and Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 143,48
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Buch 11 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 151,74
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 180 pages. 9.25x6.10x0.44 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Power-Constrained Testing of VLSI Circuits | A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard | Bashir M. Al-Hashimi (u. a.) | Taschenbuch | xi | Englisch | 2010 | Springer US | EAN 9781441953155 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Buch 11 von 40: Frontiers in Electronic TestingSprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 2003
ISBN 10: 140207235X ISBN 13: 9781402072352
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. This text surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 189 pages, biography. BIC Classification: TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 297 x 210 x 12. Weight in Grams: 990. . 2003. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Buch 11 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Minimization of power dissipation in very large scale integrated (VLSI) circuits is important to improve reliability and reduce packaging costs. While many techniques have investigated power minimization during the functional (normal) mode of operation, it is important to examine the power dissipation during the test circuit activity is substantially higher during test than during functional operation. For example, during the execution of built-in self-test (BIST) in-field sessions, excessive power dissipation can decrease the reliability of the circuit under test due to higher temperature and current density.Power-Constrained Testing of VLSI Circuits focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. The first part of this book surveys the existing techniques for power constrained testing of VLSI circuits. In the second part, several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths are presented.
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EUR 127,59
EUR 48,99 Versand
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems addresses the development and validation of co-synthesis techniques that allow an effective design of embedded systems with low energy dissipation. The book provides an overview of a syste.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Buch 11 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Minimization of power dissipation in very large scale integrated (VLSI) circuits is important to improve reliability and reduce packaging costs. While many techniques have investigated power minimization during the functional (normal) mode of operation, it is important to examine the power dissipation during the test circuit activity is substantially higher during test than during functional operation. For example, during the execution of built-in self-test (BIST) in-field sessions, excessive power dissipation can decrease the reliability of the circuit under test due to higher temperature and current density.Power-Constrained Testing of VLSI Circuits focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. The first part of this book surveys the existing techniques for power constrained testing of VLSI circuits. In the second part, several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths are presented.
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Many-Core Computing: Hardware and software (Computing and Networks)
Buch 9 von 16: Computing and NetworksSprache: Englisch
Verlag: The Institution of Engineering and Technology, 2019
ISBN 10: 1785615823 ISBN 13: 9781785615825
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 170,32
EUR 13,86 Versand
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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PFAS in the Environment
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 187,24
EUR 8,82 Versand
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In den WarenkorbHRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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System-On-Chip: Next Generation Electronics
Sprache: Englisch
Verlag: INSTITUTION OF ENGINEERING & T, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
EUR 158,12
EUR 48,99 Versand
Versand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Über den AutorBashir M Al-Hashimi is Professor of Computing Engineering at the School of Electronics and Computer Science, University of Southampton, UK.Inhaltsverzeichnisrnrnn Part 1: System-level design.
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Many-core Computing: Hardware and Software
Buch 9 von 16: Computing and NetworksSprache: Englisch
Verlag: Inst of Engineering & Technology, 2019
ISBN 10: 1785615823 ISBN 13: 9781785615825
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 201,14
EUR 17,35 Versand
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 650 pages. 9.21x6.14x1.38 inches. In Stock.
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware - System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems addresses the development and validation of co-synthesis techniques that allow an effective design of embedded systems with low energy dissipation. The book provides an overview of a system-level co-design flow, illustrating through examples how system performance is influenced at various steps of the flow including allocation, mapping, and scheduling. The book places special emphasis upon system-level co-synthesis techniques for architectures that contain voltage scalable processors, which can dynamically trade off between computational performance and power consumption. Throughout the book, the introduced co-synthesis techniques, which target both single-mode systems and emerging multi-mode applications, are applied to numerous benchmarks and real-life examples including a realistic smart phone.
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Many-Core Computing : Hardware and Software
Buch 9 von 16: Computing and NetworksSprache: Englisch
Verlag: Institution of Engineering & Technology, 2019
ISBN 10: 1785615823 ISBN 13: 9781785615825
Zustand: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Seiten: 600 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | The primary aim of this book is to provide a timely and coherent account of the recent advances in many-core computing research. Starting with programming models, operating systems and their applications; it presents runtime management techniques, followed by system modelling, verification and testing methods, and architectures and systems.
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System-on-Chip: Next Generation Electronics
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 226,87
EUR 17,35 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. illustrated edition. 944 pages. 9.25x6.50x2.25 inches. In Stock.
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Many-Core Computing: Hardware and Software
Buch 9 von 16: Computing and NetworksSprache: Englisch
Verlag: INSTITUTION OF ENGINEERING & T, 2019
ISBN 10: 1785615823 ISBN 13: 9781785615825
EUR 186,66
EUR 48,99 Versand
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In den WarenkorbZustand: New. Inhaltsverzeichnisrnrnn Part I: Programming models, OS and applicationsn Chapter 1: HPC with many core processorsn Chapter 2: From irregular heterogeneous software to reconfigurable hardwaren Chapter 3: Operatin.
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PFAS in the Environment: Occurrence, Characterization, Treatment, and Management
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 248,62
EUR 7,52 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 3 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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System-On-Chip: Next Generation Electronics
Sprache: Englisch
Verlag: Institution Of Engineering & Technology Jan 2006, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware - This book highlights both the key achievements of electronic systems design targeting SoC implementation style, and the future challenges presented by the continuing scaling of CMOS technology.
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Many-Core Computing : Hardware and Software
Buch 9 von 16: Computing and NetworksSprache: Englisch
Verlag: Institution Of Engineering & Technology Jul 2019, 2019
ISBN 10: 1785615823 ISBN 13: 9781785615825
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware - The primary aim of this book is to provide a timely and coherent account of the recent advances in many-core computing research. Starting with programming models, operating systems and their applications; it presents runtime management techniques, followed by system modelling, verification and testing methods, and architectures and systems.
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Microplastics in the Environment
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 276,25
EUR 9,82 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 15 verfügbar
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