K c mccarthy (16 Ergebnisse)
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The Art of Frank C. McCarthy
McCarthy, Frank C. (art); Kelton, Elmer (text); Ballinger, James K. (introduction)
Sprache: Englisch
Verlag: William Morrow and Company Inc., New York, USA, 1993
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Instant Insights: Improving the shelf life of horticultural produce (Burleigh Dodds Science: Instant Insights, 84)
Brecht, Prof Jeffrey K.; Uysal, Dr I.; Nunes, Dr M. C. N.; Emond, Dr J. P.; Mercier, Dr S.; McCarthy, Dr U.; Toivonen, Dr Peter; Alkan, Dr Noam; Kumar, Anirudh; Wang, K.; Handa, Prof. A. K.; Mattoo, Dr A. K.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 35B | C. S. Barrett (u. a.) | Taschenbuch | iv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461365327 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Ins…trumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.
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The Papers of General Nathanael Greene: Volume III: 18 October 177810 May 1779
Showman, Richard K. (Editor)/ McCarthy, Robert E. (Editor)/ Stevens, Elizabeth C. (Editor)
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Paperback. Zustand: Brand New. 582 pages. 9.25x6.12x1.47 inches. In Stock.
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials.… Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.
Verlag: Privately Printed,, Toledo,, 1953
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Very Good. First Edition. Hardback. No Dust Jacket. 8vo. pp 180. Original publisher's red cloth, lettered gilt on spine and on front cover. Ownership signature of Dr C. A. Foster, at one time Chairman of the Department of Anaesthetics, St. Thomas's Hospital and author of seveal books on anaesthesia and its hi…story. Signed presentation from K C McCarthy on the front endpaper. Slight wear, otherwise very good. Signedes.
