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Novel Applications of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for Structural Characterization of Disordered Materials Lecture Notes in Physics, 204
Anbieter: books4less (Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG), Welling, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Broschiert. Zustand: Gut. 183 Seiten; Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten Bibliothek und kann die entsprechenden Kennzeichnungen aufweisen (Rückenschild, Instituts-Stempel.); der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend gut. In ENGLISCHER Sprache. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 325.
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X-ray Characterization of Nanostructured Energy Materials by Synchrotron Radiation
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Novel Application of Anomalous (Resonance) X-Ray Scattering for Structural Characterization of Disordered Materials
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,500grams, ISBN:3540133593.
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X-RAY CHARACTERIZATION OF NANOSTRUCTURED ENERGY MATERIALS BY SYNCHOROTRON RADIATION (HB 2018)
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Novel application of anomalous (resonance) X-ray scattering for structural characterization of disordered materials. Lecture notes in physics; 204.
Anbieter: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Softcover. Ex-library in GOOD condition with library-signature and stamp(s). Some traces of use. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. C-00467 3540133593 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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X-Ray Fluorescence Spectrometry and Its Applications to Archaeology: An Illustrated Guide (Materials Characterization and Analysis Collection)
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. 2018. paperback. . . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Novel Application of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for structural Characterization of Disordered Materials (Lecture Notes in Physics, 204)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Novel Application of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for Structural Characterization of Disordered Materials, bearbeitet von H. Araki, J. Ehlers, K. Hepp, R. Kippenhahn, H.A. Weidenmüller und J. Zittartz
Sprache: Englisch
Verlag: Berlin, Springer (= Lecture Notes in Physics, Band 204) 1984, 1984
ISBN 10: 3540133593 ISBN 13: 9783540133599
Anbieter: Antiquariat Orban & Streu GbR, Frankfurt am Main, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Erstausgabe
Erstausgabe, 8°, 183 S., mit zahlreichen s/w-Abbildungen, Text: englisch, farbig illustr. original Kartonage (Paperback), Namens- und Datumsvermerk auf der Titelseite, innen leichte papierbedingte Nachdunklung, sonst ein schönes, sauberes Exemplar. Abholung im Ladengeschäft in Frankfurt am Main (Nordend ggü. Musterschule) möglich. Das spart die Portokosten. Pickup at the store in Frankfurt am Main (Nordend, close to Musterschule) is possible. It saves the shipping costs.
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Novel Application of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for Structural Characterization of Disordered Materials.
Sprache: Englisch
Verlag: Berlin, Springer Berlin Heidelberg, 1984
ISBN 10: 3540133593 ISBN 13: 9783540133599
Anbieter: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Softcover. 186 S. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. 3540133593 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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High-Z Materials for X-ray Detection: Material Properties and Characterization Techniques
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 72,10
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Novel Application of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for structural Characterization of Disordered Materials (Lecture Notes in Physics)
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 75,81
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. spiral-bound edition. 192 pages. 9.26x6.11x0.45 inches. In Stock.
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High-z Materials for X-ray Detection: Material Properties and Characterization Techniques
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 255 pages. 9.25x6.10x0.54 inches. In Stock.
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High-Z Materials for X-ray Detection: Material Properties and Characterization Techniques
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 90,22
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Zustand: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 278 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | A brief background of the present requirement for structural characterization of disordered materials.- Fundamental relationships between rdf and scattering intensity.- Definition of partial structure factors and compositional short range order (CSRO).- Experimental determination of partial structural functions.- Nature of anomalous x-ray scattering and its application for structural analysis of disordered materials.- Theoretical aspects on the anomalous dispersion factors of x-rays.- Experimental determination of the anomalous dispersion factors.- Selected examples of structural determination using anomalous (resonance) x-ray scattering.- Relative merits of anomalous x-ray scattering and its future prospects.
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Novel Application of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for structural Characterization of Disordered Materials
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Springer Berlin Heidelberg, 1984
ISBN 10: 3540133593 ISBN 13: 9783540133599
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - A brief background of the present requirement for structural characterization of disordered materials.- Fundamental relationships between rdf and scattering intensity.- Definition of partial structure factors and compositional short range order (CSRO).- Experimental determination of partial structural functions.- Nature of anomalous x-ray scattering and its application for structural analysis of disordered materials.- Theoretical aspects on the anomalous dispersion factors of x-rays.- Experimental determination of the anomalous dispersion factors.- Selected examples of structural determination using anomalous (resonance) x-ray scattering.- Relative merits of anomalous x-ray scattering and its future prospects.
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High-Z Materials for X-ray Detection : Material Properties and Characterization Techniques
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, 2024
ISBN 10: 3031209575 ISBN 13: 9783031209574
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book will provide readers with a good overview of some of most recent advances in the field of High-Z materials. There will be a good mixture of general chapters in both technology and applications in opto-electronics, X-ray detection and emerging optoelectronics applications. The book will have an in-depth review of the research topics from world-leading specialists in the field.
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![Beispielbild für Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials [Englisch] [Gebundene Ausgabe] Brent Fultz (Autor), James Howe (Autor) This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. zum Verkauf von BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer](https://pictures.abebooks.com/isbn/9783540738855-de-300.jpg)
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials [Englisch] [Gebundene Ausgabe] Brent Fultz (Autor), James Howe (Autor) This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009, 2008
ISBN 10: 3540738851 ISBN 13: 9783540738855
Anbieter: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, Deutschland
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: gut. This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. In englischer Sprache. 758 pages. 3,3 x 16 x 23,3 cm Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009.
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X-ray Characterization of Nanostructured Energy Materials by Synchrotron Radiation
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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High-Z Materials for X-Ray Detection: Material Properties and Characterization Techniques
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 255 pages. 9.25x6.10x9.21 inches. In Stock.
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High-Z Materials for X-ray Detection : Material Properties and Characterization Techniques
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, 2023
ISBN 10: 3031209540 ISBN 13: 9783031209543
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book will provide readers with a good overview of some of most recent advances in the field of High-Z materials. There will be a good mixture of general chapters in both technology and applications in opto-electronics, X-ray detection and emerging optoelectronics applications. The book will have an in-depth review of the research topics from world-leading specialists in the field.
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Anomalous x-ray scattering for materials characterization. Atomic scale structure determination.
Buch 83 von 227: Springer Tracts in Modern PhysicsAnbieter: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. C-02706 9783540434436 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination (Springer Tracts in Modern Physics, 179)
Buch 83 von 227: Springer Tracts in Modern PhysicsAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination (Springer Tracts in Modern Physics, 179)
Buch 83 von 227: Springer Tracts in Modern PhysicsAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization | Atomic-Scale Structure Determination | Yoshio Waseda | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9783662146378 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Nature Customer Service Center GmbH, Europaplatz 3, 69115 Heidelberg, productsafety[at]springernature[dot]com | Anbieter: preigu.
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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
Buch 83 von 227: Springer Tracts in Modern PhysicsSprache: Englisch
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2002
ISBN 10: 3540434437 ISBN 13: 9783540434436
EUR 227,74
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. This book is the first one on anomalous X-ray scatteringThis book is the first one on anomalous X-ray scatteringIncludes supplementary material: sn.pub/extrasThe production of multi layered thin films with sufficient reliability is a k.
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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization : Atomic-Scale Structure Determination
Buch 83 von 227: Springer Tracts in Modern PhysicsSprache: Englisch
Verlag: Springer, Berlin, Springer, 2013
ISBN 10: 3662146371 ISBN 13: 9783662146378
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The production of multi layered thin films with sufficient reliability is a key technology for device fabrication in micro electronics. In the Co/Cu type multi layers, for example, magnetoresistance has been found as large as 80 % at 4. 2 K and 50 % at room temperature. In addition to such gigantic mag netoresistance, these multi layers indicate anti ferromagnetic and ferromag netic oscillation behavior with an increase in the thickness of the layers of the non magnetic component. These interesting properties of the new synthetic flmctional materials are attributed to their periodic and interracial structures at a microscopic level, although the origin of such peculiar features is not fully understood. Information on the surface structure or the number density of atoms in the near surface region may provide better insight. Amorphous alloys, frequently referred to as metallic glasses, are produced by rapid quenching from the melt. The second generation amorphous alloys, called 'bulk amorphous alloys', have been discovered in some Pd based and Zr based alloy systems, with a super cooled liquid region at more than 120 K. In these alloy systems, one can obtain a sample thickness of several centime ters. Growing scientific and technological curiosity about the new amorphous alloys has focused on the fundamental factors, such as the atomic scale struc ture, which are responsible for the thermal stability with certain chemical compositions.
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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination: 179 (Springer Tracts in Modern Physics)
Buch 83 von 227: Springer Tracts in Modern PhysicsAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 294,33
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 232 pages. 9.25x6.10x0.53 inches. In Stock.
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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization : Atomic-Scale Structure Determination
Buch 83 von 227: Springer Tracts in Modern PhysicsSprache: Englisch
Verlag: Springer, Berlin, Springer, 2002
ISBN 10: 3540434437 ISBN 13: 9783540434436
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware - The production of multi layered thin films with sufficient reliability is a key technology for device fabrication in micro electronics. In the Co/Cu type multi layers, for example, magnetoresistance has been found as large as 80 % at 4. 2 K and 50 % at room temperature. In addition to such gigantic mag netoresistance, these multi layers indicate anti ferromagnetic and ferromag netic oscillation behavior with an increase in the thickness of the layers of the non magnetic component. These interesting properties of the new synthetic flmctional materials are attributed to their periodic and interracial structures at a microscopic level, although the origin of such peculiar features is not fully understood. Information on the surface structure or the number density of atoms in the near surface region may provide better insight. Amorphous alloys, frequently referred to as metallic glasses, are produced by rapid quenching from the melt. The second generation amorphous alloys, called 'bulk amorphous alloys', have been discovered in some Pd based and Zr based alloy systems, with a super cooled liquid region at more than 120 K. In these alloy systems, one can obtain a sample thickness of several centime ters. Growing scientific and technological curiosity about the new amorphous alloys has focused on the fundamental factors, such as the atomic scale struc ture, which are responsible for the thermal stability with certain chemical compositions.
