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nanometer scale defect detection using von dahoo pierre richard (6 Ergebnisse)
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NANOMETER-SCALE DEFECT DETECTION USING POLARIZED LIGHT
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 33,25
Währung umrechnenEUR 10,21 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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EUR 166,43
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.Klappentext.
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 173,76
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbBuch. Zustand: Neu. Neuware - This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 176,48
Währung umrechnenEUR 5,74 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Verlag: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Sprache: Englisch
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 228,41
Währung umrechnenEUR 1,89 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 15 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Num Pages: 316 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TBN; TGMT; TTB. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 164 x 22. Weight in Grams: 622. . 2016. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 219,07
Währung umrechnenEUR 11,53 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 200 pages. 10.00x6.50x1.00 inches. In Stock.
