Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light

Dahoo, Pierre-Richard|Pougnet, Philippe|El Hami, Abdelkhalak

ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Verlag: John Wiley & Sons, Ltd., 2015
Sprache: Englisch
Neu Zustand: New Hardcover

Verkäufer moluna, Greven, Deutschland

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