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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 147,64
Währung umrechnenEUR 13,75 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method (Mechanical Enginnering and Solid Mechanics)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 147,64
Währung umrechnenEUR 13,75 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 189,09
Währung umrechnenEUR 7,46 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 3 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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EUR 156,50
Währung umrechnenEUR 48,99 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Pierre Richard Dahoo is Professor and Holder of the Chair of Materials Simulation and Engineering at the University of Versailles Saint-Quentin in France. He is Director of Institut des Sciences et Techniques des Yvelines and a specialist in modeling and sp.
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EUR 157,43
Währung umrechnenEUR 48,99 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Pierre Richard Dahoo is Professor and Holder of the Chair of Materials Simulation and Engineering at the University of Versailles Saint-Quentin in France. He is Director of Institut des Sciences et Techniques des Yvelines and a specialist in modeling and sp.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1, Volume 9: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 216,82
Währung umrechnenEUR 28,70 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 256 pages. 0.39x0.39x0.39 inches. In Stock.
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Applications and Metrology at Nanometer-scale: Measurement Systems, Quantum Engineering and Rbdo Method: Vol 10
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 217,24
Währung umrechnenEUR 28,70 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 288 pages. 12.48x12.48x0.83 inches. In Stock.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Verlag: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2021
ISBN 10: 1786306409 ISBN 13: 9781786306401
Sprache: Englisch
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 238,97
Währung umrechnenEUR 8,94 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. 2021. 1st Edition. Hardcover. . . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2 : Measurement Systems, Quantum Engineering and Rbdo Method
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 192,41
Währung umrechnenEUR 62,92 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbBuch. Zustand: Neu. Neuware - Nanoscience, nanotechnologies and the laws of quantum physics are sources of disruptive innovation that open up new fields of application. Quantum engineering enables the development of very sensitive materials, sensor measurement systems and computers. Quantum computing, which is based on two-level systems, makes it possible to manufacture computers with high computational power.This book provides essential knowledge and culminates with an industrial application of quantum engineering and nanotechnologies. It presents optical systems for measuring at the nanoscale, as well as quantum physics models that describe how a two-state system interacts with its environment. The concept of spin and its derivation from the Dirac equation is also explored, while theoretical foundations and example applications aid in understanding how a quantum gate works. Application of the reliability-based design optimization (RBDO) method of mechanical structures is implemented, in order to ensure reliability of estimates from the measurement of mechanical properties of carbon nanotube structures.This book provides valuable support for teachers and researchers but is also intended for engineering students, working engineers and Master s students.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 193,14
Währung umrechnenEUR 62,71 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbBuch. Zustand: Neu. Neuware - To develop innovations in quantum engineering and nanosystems, designers need to adopt the expertise that has been developed in research laboratories. This requires a thorough understanding of the experimental measurement techniques and theoretical models, based on the principles of quantum mechanics.This book presents experimental methods enabling the development and characterization of materials at the nanometer scale, based on practical engineering cases, such as 5G and the interference of polarized light when applied for electromagnetic waves. Using the example of electromechanical, multi-physical coupling in piezoelectric systems, smart materials technology is discussed, with an emphasis on scale reduction and mechanical engineering applications.Statistical analysis methods are presented in terms of their usefulness in systems engineering for experimentation, characterization or design, since safety factors and the most advanced reliability calculation techniques are included from the outset. This book provides valuable support for teachers and researchers but is also intended for engineering students, working engineers and Master s students.
