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9783540115151 - Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects (Springer Series in Solid-State Sciences, 35, Band 35) von Bourgoin, J. (1 Ergebnisse)
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Experimental aspects. Springer series in solid-state sciences; 35.
Anbieter: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. XVI, 295 Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. C-05849 3540115153 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
