Point Defects in Semiconductors II. Experimental Aspects. Springer Series in Solid-State Sciences; Vol. 35.

Bourgoin, J. and Lannoo, M.:

ISBN 10: 3540115153 ISBN 13: 9783540115151
Verlag: Berlin: Springer., 1983
Sprache: Englisch
Zustand: Gebraucht - Gut Hardcover

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