9781249594987 - characterization and measurement of passive and active metamaterial devices von lundell, christopher a. (3 Ergebnisse)
- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 22,68
EUR 13,86 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In.
- Softcover
Anbieter: moluna, Greven, , Deutschlandmoluna
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 27,82
EUR 48,99 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. KlappentextrnrnThis document addresses two major obstacles facing metamaterial development: uncertainty in the characterization of electromagnetic field behavior in metamaterial structures and the relatively small operational bandwidth of metama.
- Softcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 33,08
EUR 61,73 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware - This document addresses two major obstacles facing metamaterial development: uncertainty in the characterization of electromagnetic field behavior in metamaterial structures and the relatively small operational bandwidth of metamaterial structures. To address the first obstacle, a new method…to characterize electromagnetic field behavior in a metamaterial is presented. This new method is a bistatic radar cross section (RCS) measurement technique. RCS measurements are well-suited to measuring bulk metamaterial samples because they show frequency dependence of scattering angles and offer common postprocessing techniques that can be useful for visualizing results.
