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Characterization and Measurement of Passive and Active Metamaterial Devices
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Characterization and Measurement of Passive and Active Metamaterial Devices
Sprache: Englisch
Verlag: Creative Media Partners, LLC Okt 2012, 2012
ISBN 10: 1249594987 ISBN 13: 9781249594987
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware - This document addresses two major obstacles facing metamaterial development: uncertainty in the characterization of electromagnetic field behavior in metamaterial structures and the relatively small operational bandwidth of metamaterial structures. To address the first obstacle, a new method to characterize electromagnetic field behavior in a metamaterial is presented. This new method is a bistatic radar cross section (RCS) measurement technique. RCS measurements are well-suited to measuring bulk metamaterial samples because they show frequency dependence of scattering angles and offer common postprocessing techniques that can be useful for visualizing results.
