9780792386698 - design for at-speed test, diagnosis and measurement (frontiers in electronic testing, 15, band 15) (11 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 1999
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Anbieter: Better World Books: West, Reno, NV, USABetter World Books: West
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 1999
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Anbieter: Better World Books, Mishawaka, IN, USABetter World Books
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 1999
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EUR 16,24
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 1999
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Anbieter: Better World Books Ltd, Dunfermline, Vereinigtes KönigreichBetter World Books Ltd
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Zustand: Very Good. Former library copy. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 1999
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 1999
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 1999
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Zustand: Used. pp. 260 Illus.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 1999
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Zustand: Used. pp. 260.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 1999
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Zustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer US, Copernicus, 1999
- Hardcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board…and systems levels. Designers will see how the implementation of embedded test enables simplification of silicon debug and system bring-up. Test engineers will determine how embedded test provides a superior level of at-speed test, diagnosis and measurement without exceeding the capabilities of their equipment. Product managers will learn how the time, resources and costs associated with test development, manufacture cost and lifecycle maintenance of their products can be significantly reduced by designing embedded test in the product. A complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design makes this book a `must read' before any DFT is attempted.
Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 1999
- Hardcover
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USAKennys Bookstore
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Zustand: New. Offers practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels. This book contains a complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design. Editor(s): N…adeau-Dostie, Benoit. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 256 pages, biography. BIC Classification: TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 254 x 178 x 15. Weight in Grams: 670. . 1999. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
