Isbn: 9780792386698 - design for at-speed test, diagnosis and measurement (frontiers in electronic testing, 15, band 15) (9 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 1999
- Hardcover
Anbieter: Better World Books Ltd, Dunfermline, Vereinigtes KönigreichBetter World Books Ltd
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 1999
- Hardcover
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EUR 4,31
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 1999
- Hardcover
Anbieter: Better World Books, Mishawaka, IN, USABetter World Books
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EUR 14,86
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Zustand: Very Good. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 1999
- Hardcover
Anbieter: Better World Books, Mishawaka, IN, USABetter World Books
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EUR 14,86
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Zustand: Good. Former library copy. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 1999
- Hardcover
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USARomtrade Corp.
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EUR 115,19
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 1999
- Hardcover
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes KönigreichMajestic Books
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Zustand: Used. pp. 260 Illus.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 1999
- Hardcover
Anbieter: Biblios, frankfurt am main, HESSE, DeutschlandBiblios
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Zustand: Used. pp. 260.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 1999
- Hardcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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Zustand: New. In English.
Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 1999
- Hardcover
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USAKennys Bookstore
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Zustand: New. Offers practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels. This book contains a complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design. Editor(s): Nadeau-Dostie, Benoit. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 256 pages, biography. BIC Classification: TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 254 x 178 x 15. Weight in Grams: 670. . 1999. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.…
