Benoit nadeau dostie (12 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 37 von 40. Buch 37 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Better World Books: West, Reno, NV, USABetter World Books: West
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 37 von 40. Buch 37 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Better World Books, Mishawaka, IN, USABetter World Books
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Zustand: Good. Former library copy. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 37 von 40. Buch 37 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Better World Books Ltd, Dunfermline, Vereinigtes KönigreichBetter World Books Ltd
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Zustand: Very Good. Former library copy. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 37 von 40. Buch 37 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USARomtrade Corp.
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 37 von 40. Buch 37 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, , Vereinigtes KönigreichMajestic Books
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Zustand: Used. pp. 260 Illus.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 37 von 40. Buch 37 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2013
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 37 von 40. Buch 37 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 37 von 40. Buch 37 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Biblios, frankfurt am main, HESSE, DeutschlandBiblios
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Zustand: Used. pp. 260.
Weitere BilderSprache: Englisch
Verlag: Springer US 2013
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 37 von 40. Buch 37 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschlandpreigu
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement | Benoit Nadeau-Dostie | Taschenbuch | xvii | Englisch | 2013 | Springer US | EAN 9781475782912 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu….
Sprache: Englisch
Verlag: Springer US, Copernicus 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 37 von 40. Buch 37 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board…and systems levels. Designers will see how the implementation of embedded test enables simplification of silicon debug and system bring-up. Test engineers will determine how embedded test provides a superior level of at-speed test, diagnosis and measurement without exceeding the capabilities of their equipment. Product managers will learn how the time, resources and costs associated with test development, manufacture cost and lifecycle maintenance of their products can be significantly reduced by designing embedded test in the product. A complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design makes this book a `must read' before any DFT is attempted.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer US, Springer New York 2013
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 37 von 40. Buch 37 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the… board and systems levels. Designers will see how the implementation of embedded test enables simplification of silicon debug and system bring-up. Test engineers will determine how embedded test provides a superior level of at-speed test, diagnosis and measurement without exceeding the capabilities of their equipment. Product managers will learn how the time, resources and costs associated with test development, manufacture cost and lifecycle maintenance of their products can be significantly reduced by designing embedded test in the product. A complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design makes this book a `must read' before any DFT is attempted.
Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 37 von 40. Buch 37 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USAKennys Bookstore
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EUR 255,34
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Zustand: New. Offers practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels. This book contains a complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design. Editor(s): N…adeau-Dostie, Benoit. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 256 pages, biography. BIC Classification: TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 254 x 178 x 15. Weight in Grams: 670. . 1999. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
