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Design for at-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Buch 37 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Better World Books: West, Reno, NV, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Fine. Used book that is in almost brand-new condition. May contain a remainder mark. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Design for at-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Buch 37 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Better World Books, Mishawaka, IN, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Good. Former library copy. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Design for at-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Buch 37 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Better World Books Ltd, Dunfermline, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 41,74
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Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: Very Good. Former library copy. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Design For At-speed Test, Diagnosis And Measurement (frontiers In Electronic Testing Volume 15) (frontiers In Electronic Testing)
Buch 37 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Buch 37 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 164,28
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Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: Used. pp. 260 Illus.
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement (Frontiers in Electronic Testing, 15)
Buch 37 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement (Frontiers in Electronic Testing)
Buch 37 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 164,11
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Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Buch 37 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: Used. pp. 260.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement | Benoit Nadeau-Dostie | Taschenbuch | xvii | Englisch | 2013 | Springer US | EAN 9781475782912 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Buch 37 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels. Designers will see how the implementation of embedded test enables simplification of silicon debug and system bring-up. Test engineers will determine how embedded test provides a superior level of at-speed test, diagnosis and measurement without exceeding the capabilities of their equipment. Product managers will learn how the time, resources and costs associated with test development, manufacture cost and lifecycle maintenance of their products can be significantly reduced by designing embedded test in the product. A complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design makes this book a `must read' before any DFT is attempted.
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Buch 37 von 40: Frontiers in Electronic TestingSprache: Englisch
Verlag: Springer US, Springer New York, 2013
ISBN 10: 1475782918 ISBN 13: 9781475782912
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels. Designers will see how the implementation of embedded test enables simplification of silicon debug and system bring-up. Test engineers will determine how embedded test provides a superior level of at-speed test, diagnosis and measurement without exceeding the capabilities of their equipment. Product managers will learn how the time, resources and costs associated with test development, manufacture cost and lifecycle maintenance of their products can be significantly reduced by designing embedded test in the product. A complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design makes this book a `must read' before any DFT is attempted.
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Design for AT-speed Test, Diagnosis and Measurement
Buch 37 von 40: Frontiers in Electronic TestingSprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 1999
ISBN 10: 0792386698 ISBN 13: 9780792386698
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Offers practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels. This book contains a complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design. Editor(s): Nadeau-Dostie, Benoit. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 256 pages, biography. BIC Classification: TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 254 x 178 x 15. Weight in Grams: 670. . 1999. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
