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9780521024457 - Photo-induced Defects Semiconductrs (Cambridge Studies in Semiconductor Physics And Microelectronic Engineering, 4, Band 4) von Redfield, David (6 Ergebnisse)
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Photoinduced Defects in Semiconductors.
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ
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Photo-induced Defects Semiconductrs (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering)
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: Labyrinth Books, Princeton, NJ, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Very Good.
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Photo-induced Defects in Semiconductors (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4) (Volume 0)
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Vereinigtes Königreich
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Photo-induced Defects in Semiconductors (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4) (Volume 0)
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Photo-induced Defects Semiconductrs: 4 (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4)
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. A thorough review of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors. Series Editor(s): Ahmad, Haroon; Pepper, Michael; Broers, Alec. Series: Cambridge Studies in Semiconductor Physics & Microelectronic Engineering. Num Pages: 232 pages, 106 b/w illus. BIC Classification: PHK; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 229 x 152 x 13. Weight in Grams: 350. . 2008. 1st Edition. paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Photo-Induced Defects in Semiconductors
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Photoinduced Defects in Semiconductors is the first book to give a complete overview of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors that can be created or destroyed by light.
