Yi kan cheng (10 Ergebnisse)

Electrothermal Analysis Of Vlsi Systems
Yi-Kan Cheng; Ching-Han Tsai; Chin-Chi Teng; Sung-Mo (Steve) Kang
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Kang Sung-Mo (Steve) Teng Chin-Chi Tsai Ching-Han Cheng Yi-Kan
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Kang Sung-Mo (Steve) Teng Chin-Chi Tsai Ching-Han Cheng Yi-Kan
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Yi-Kan Cheng, Yi-Kan; Ching-Han Tsai; Chin-Chi Teng; Sung-Mo (Steve) Kang
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Yi-Kan Cheng; Ching-Han Tsai; Chin-Chi Teng; Sung-Mo (Steve) Kang
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Yi-Kan Cheng, Sung-Mo (Steve) Kang, Chin-Chi Teng, Ching-Han Tsai
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Zustand: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power analy…sis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration). Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis. Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Electrothermal Analysis of VLSI Systems | Yi-Kan Cheng (u. a.) | Taschenbuch | xxiii | Englisch | 2013 | Humana | EAN 9781475773736 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.

Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Cheng, Yi-Kan; Tsai, Ching-Han (Coordinated Science Laboratory, University of Illinois, USA); Teng, Chin-Chi (Silicon Perspective Corporation, Santa
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Zustand: New. Addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. This book discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration).… Num Pages: 233 pages, 36 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJF; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 234 x 156 x 14. Weight in Grams: 514. . 2000. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.

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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including p…ower analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration). Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis. Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students.

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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power an…alysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration). Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis. Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students.