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Unterwegs: Literatur-Gegenwart China
Anbieter: NEPO UG, Rüsselsheim am Main, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 3,99
Währung umrechnenEUR 4,00 für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbGebundene Ausgabe. Zustand: Wie neu. 375 Seiten Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 969.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover)).
Anbieter: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ ILAB VDA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Erstausgabe
EUR 16,00
Währung umrechnenEUR 3,00 für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den Warenkorb1st ed. 21 x 24 cm. 808 pages. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)
Anbieter: diakonia secondhand, München, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 40,66
Währung umrechnenEUR 4,00 für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: Gut. 777 S. Einband hinten leicht eingedrückt. Schnitt unten dezent fleckig. Mit Bibliothek-Stempel. 518 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1800 Gebundene Ausgabe, Maße: 20.62 cm x 5.23 cm x 23.83 cm.
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Quantum-Dot Cellular Automata Circuits for Nanocomputing Applications
Verlag: Taylor & Francis Ltd (Sales) Mai 2025, 2025
ISBN 10: 1032421959 ISBN 13: 9781032421957
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 80,14
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Neuware - This book provides a composite solution for optimal logic designs for quantum-dot cellular automata based circuits. It includes the basics of new logic functions and novel digital circuit designs, quantum computing with QCA, new trends in quantum and quantum-inspired algorithms and applications, and algorithms to support QCA designers.
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VLSI Test Principles and Architectures
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 79,14
Währung umrechnenEUR 10,21 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 3 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. pp. xxx + 777 Illus.
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VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 80,21
Währung umrechnenEUR 11,53 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 777 pages. 9.25x7.50x2.00 inches. In Stock.
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Quantum-Dot Cellular Automata Circuits for Nanocomputing Applications
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 93,33
Währung umrechnenEUR 11,53 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 252 pages. 9.18x6.12x9.21 inches. In Stock.
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Verlag: Springer US, Springer New York, 2014
ISBN 10: 1489983139 ISBN 13: 9781489983138
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 122,12
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate power management strategies, such as dynamic voltage scaling, clock gating or power gating techniques, are used today to control the power dissipation during functional operation. The usage of these strategies has various implications on manufacturing test, and power-aware test is therefore increasingly becoming a major consideration during design-for-test and test preparation for low power devices. This book explores existing solutions for power-aware test and design-for-test of conventional circuits and systems, and surveys test strategies and EDA solutions for testing low power devices.
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VLSI Test Principles and Architectures
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 115,51
Währung umrechnenEUR 11,53 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 1st edition. 808 pages. 9.35x7.50x1.83 inches. In Stock.
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EUR 125,26
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 363 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 128,33
Währung umrechnenEUR 5,74 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 164,49
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbBuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate power management strategies, such as dynamic voltage scaling, clock gating or power gating techniques, are used today to control the power dissipation during functional operation. The usage of these strategies has various implications on manufacturing test, and power-aware test is therefore increasingly becoming a major consideration during design-for-test and test preparation for low power devices. This book explores existing solutions for power-aware test and design-for-test of conventional circuits and systems, and surveys test strategies and EDA solutions for testing low power devices.
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 165,41
Währung umrechnenEUR 5,74 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Quantum-Dot Cellular Automata Circuits for Nanocomputing Applications (Materials, Devices, and Circuits)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 178,54
Währung umrechnenEUR 5,74 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Quantum-dot Cellular Automata Circuits for Nanocomputing Applications
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 219,16
Währung umrechnenEUR 11,53 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 288 pages. 9.19x6.13x0.87 inches. In Stock.
