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Verkäuferbewertung
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover)).
Anbieter: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ ILAB VDA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Erstausgabe
1st ed. 21 x 24 cm. 808 pages. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch.
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Unterwegs: Literatur-Gegenwart China
Anbieter: NEPO UG, Rüsselsheim am Main, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 3,99
EUR 24,00 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbGebundene Ausgabe. Zustand: Wie neu. 375 Seiten Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 969.
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Quantum-dot Cellular Automata Circuits for Nanocomputing Applications
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 67,55
EUR 7,40 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 3 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)
Anbieter: diakonia secondhand, München, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Gut. 777 S. Einband hinten leicht eingedrückt. Schnitt unten dezent fleckig. Mit Bibliothek-Stempel. 518 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1800 Gebundene Ausgabe, Maße: 20.62 cm x 5.23 cm x 23.83 cm.
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VLSI Test Principles and Architectures
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 80,18
EUR 7,40 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 3 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. pp. xxx + 777 Illus.
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VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 79,17
EUR 17,08 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 777 pages. 9.25x7.50x2.00 inches. In Stock.
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Quantum-Dot Cellular Automata Circuits for Nanocomputing Applications
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 94,50
EUR 11,38 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 252 pages. 9.18x6.12x9.21 inches. In Stock.
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VLSI Test Principles and Architectures
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 114,00
EUR 17,08 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 1st edition. 808 pages. 9.35x7.50x1.83 inches. In Stock.
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Quantum-Dot Cellular Automata Circuits for Nanocomputing Applications
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 163,47
EUR 7,40 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 3 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices | Patrick Girard (u. a.) | Taschenbuch | xxi | Englisch | 2014 | Springer US | EAN 9781489983138 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Verlag: Springer US, Springer New York, 2014
ISBN 10: 1489983139 ISBN 13: 9781489983138
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate power management strategies, such as dynamic voltage scaling, clock gating or power gating techniques, are used today to control the power dissipation during functional operation. The usage of these strategies has various implications on manufacturing test, and power-aware test is therefore increasingly becoming a major consideration during design-for-test and test preparation for low power devices. This book explores existing solutions for power-aware test and design-for-test of conventional circuits and systems, and surveys test strategies and EDA solutions for testing low power devices.
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Quantum-dot Cellular Automata Circuits for Nanocomputing Applications
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 221,92
EUR 14,23 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 288 pages. 9.19x6.13x0.87 inches. In Stock.
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate power management strategies, such as dynamic voltage scaling, clock gating or power gating techniques, are used today to control the power dissipation during functional operation. The usage of these strategies has various implications on manufacturing test, and power-aware test is therefore increasingly becoming a major consideration during design-for-test and test preparation for low power devices. This book explores existing solutions for power-aware test and design-for-test of conventional circuits and systems, and surveys test strategies and EDA solutions for testing low power devices.
