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History of the Canadian Peoples, Volume II - 1867 to the Present
Sprache: Englisch
Verlag: Copp Clark Pitman, Mississauga, ON, UK, 1993
ISBN 10: 0773051899 ISBN 13: 9780773051898
Anbieter: BookAddiction (IOBA, IBooknet), Canterbury, Vereinigtes Königreich
Verbandsmitglied: IOBA
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In den WarenkorbSoftcover. Zustand: Near Fine. Zustand des Schutzumschlags: N/A. xxii, 632pp; various in-text black and white photographs. Pictorial laminated light card covers. 8vo. Light shelf wear to covers. Internally, neat, clean, bright and tight.
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History of the Canadian Peoples: Beginnings to 1867
Anbieter: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Vereinigtes Königreich
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Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
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In den WarenkorbZustand: New. This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. Series: IEEE Press Series on Microelectronic Systems. Num Pages: 624 pages, Illustrations. BIC Classification: TJFC; UY. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 162 x 34. Weight in Grams: 982. . 2009. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware - A comprehensive treatment of all aspects of CMOS reliability wearout mechanismsThis book covers everything students and professionals need to know about CMOS reliability wearout mechanisms, from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. It is the first book of its kind to bring together the pertinent physics, equations, and procedures for CMOS technology reliability in one place. Divided into six relatively independent topics, the book covers:\* Introduction to Reliability\* Gate Dielectric Reliability\* Negative Bias Temperature Instability\* Hot Carrier Injection\* Electromigration Reliability\* Stress VoidingChapters conclude with practical appendices that provide very basic experimental procedures for readers who are conducting reliability experiments for the first time. Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies is ideal for students and new engineers who are looking to gain a working understanding of CMOS technology reliability. It is also suitable as a professional reference for experienced circuit design engineers, device design engineers, and process engineers.
