Vollertsen rolf peter (4 Ergebnisse)
Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies
Strong, Alvin W.; Wu, Ernest Y.; Vollertsen, Rolf-Peter; Sune, Jordi; La Rosa, Giuseppe; Sullivan, Timothy D.; Rauch III, Stewart E.
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Zustand: New. pp. 624.
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (IEEE Press Series on Microelectronic Systems)
Strong, Alvin W.; Wu, Ernest Y.; Vollertsen, Rolf-Peter; Sune, Jordi; La Rosa, Giuseppe; Sullivan, Timothy D.; Rauch III, Stewart E.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Strong, Alvin W./ Wu, Ernest Y./ Vollertsen, Rolf-peter/ Sune, Jordi/ La Rosa, Guiseppe
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Hardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 624 pages. 9.50x6.50x1.25 inches. In Stock.
