Shin youngsoo (9 Ergebnisse)
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VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power: 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, Daejeon, Korea, October 5-7, 2015, Revised Selected Papers (IFIP Advances in Information and Communication Technology)
Shin, Youngsoo (Editor) / Tsui, Chi Ying (Editor) / Kim, Jae-Joon (Editor) / Choi, Kiyoung (Editor) / Reis, Ricardo (Editor)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2018
Serie: Buch 143 von 292 - IFIP Advances in Information and Communication Technology
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2018
Serie: Buch 143 von 292 - IFIP Advances in Information and Communication Technology
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Taschenbuch. Zustand: Neu. VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power | 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, Daejeon, Korea, October 5-7, 2015, Revised Selected Papers | Youngsoo Shin (u. a.) | Taschenbuch | IFIP Advances in Information and Communication Technology | xiii | Englisch | 2018 | Springer | EAN 9783319834405 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.…
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Zustand: New. Introduces a highly promising patterning solution for next generation technologyProvides a comprehensive overview of directed self-assembly lithography (DSAL) friendly physical design and DSAL-aware mask synthesis Written by leading .
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