Selberherr siegfried (42 Ergebnisse)
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2012 Workshop on Innovative Nanoscale Devices and Systems: WINDS - Booklet of Abstracts. Hapuna Beach Pronce Hotel; Kohala Voast, Hawaii, USA / December 2 - 7, 2012
Ishibashi, Koji, Stephen M. Goodnick Siegfried Selberherr a. o.;
Sprache: Englisch
Verlag: Wien, Society for Micro- and Nanoelectronics - TU Wien, 2012
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4°, Original-Broschur. xiii, 84 Seiten. Einband berieben und mit Lagerspuren, innen tadellos. Ein offensichtlich ungelesenes, durchgehend sauberes Exemplar. In englischer Sprache. IS: 9783901578250 ****An unsere Kunden in Deutschland: Versand nach Deutschland einmal in der Woche ab Freilassing mit der Deutschen Post.*** - Sprach…e: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2012
Serie: Computational Microelectronics, Buch 1 von 17. Buch 1 von 17 - Computational Microelectronics
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer Vienna 2013
Serie: Computational Microelectronics, Buch 1 von 17. Buch 1 von 17 - Computational Microelectronics
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Sprache: Englisch
Verlag: Birkhäuser 2022
Serie: Modeling and Simulation in Science, Engineering and Technology, Buch 53 von 55. Buch 53 von 55 - Modeling and Simulation in Science, Engineering and Technology
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Simulation of Semiconductor Devices and Processes: Vol.5
Selberherr, Siegfried (Editor)/ Stippel, Hannes (Editor)/ Strasser, Ernst (Editor)
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Paperback. Zustand: Brand New. 524 pages. 9.50x6.75x1.00 inches. In Stock.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Vienna 2012
Serie: Computational Microelectronics, Buch 1 von 17. Buch 1 von 17 - Computational Microelectronics
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Serie: Modeling and Simulation in Science, Engineering and Technology, Buch 53 von 55. Buch 53 von 55 - Modeling and Simulation in Science, Engineering and Technology
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Serie: Computational Microelectronics, Buch 1 von 17. Buch 1 von 17 - Computational Microelectronics
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - As the cost of developing new semiconductor technology at ever higher bit/gate densities continues to grow, the value of using accurate TCAD simu lation tools for design and development becomes more and more of a necessity to compete in today's busin…ess. The ability to tradeoff wafer starts in an advanced piloting facility for simulation analysis and optimization utilizing a 'virtual fab' S/W tool set is a clear economical asset for any semiconductor development company. Consequently, development of more sophisticated, accurate, physics-based, and easy-to-use device and process modeling tools will receive continuing attention over the coming years. The cost of maintaining and paying for one's own internal modeling tool development effort, however, has caused many semiconductor development companies to consider replacing some or all of their internal tool development effort with the purchase of vendor modeling tools. While some (noteably larger) companies have insisted on maintaining their own internal modeling tool development organization, others have elected to depend totally on the tools offered by the TCAD vendors and have consequently reduced their mod eling staffs to a bare minimal support function. Others are seeking to combine the best of their internally developed tool suite with 'robust', 'proven' tools provided by the vendors, hoping to achieve a certain synergy as well as savings through this approach. In the following sections we describe IBM's internally developed suite of TCAD modeling tools and show several applications of the use of these tools.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The 'Fifth International Conference on Simulation of Semiconductor Devices and Processes' (SISDEP 93) continues a series of conferences which was initiated in 1984 by K. Board and D. R. J. Owen at the University College of Wales, Swansea, where it to…ok place a second time in 1986. Its organization was succeeded by G. Baccarani and M. Rudan at the University of Bologna in 1988, and W. Fichtner and D. Aemmer at the Federal Institute of Technology in Zurich in 1991. This year the conference is held at the Technical University of Vienna, Austria, September 7 - 9, 1993. This conference shall provide an international forum for the presentation of out standing research and development results in the area of numerical process and de vice simulation. The miniaturization of today's semiconductor devices, the usage of new materials and advanced process steps in the development of new semiconduc tor technologies suggests the design of new computer programs. This trend towards more complex structures and increasingly sophisticated processes demands advanced simulators, such as fully three-dimensional tools for almost arbitrarily complicated geometries. With the increasing need for better models and improved understand ing of physical effects, the Conference on Simulation of Semiconductor Devices and Processes brings together the simulation community and the process- and device en gineers who need reliable numerical simulation tools for characterization, prediction, and development.
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Verlag: Springer 2012
Serie: Computational Microelectronics, Buch 1 von 17. Buch 1 von 17 - Computational Microelectronics
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Technology CAD Systems | Franz Fasching (u. a.) | Taschenbuch | viii | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9783709193174 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Simulation of Semiconductor Devices and Processes | Vol.5 | Siegfried Selberherr (u. a.) | Taschenbuch | XX | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9783709173725 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbiete…r: preigu.
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 480 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | The "Twelfth International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices" (SISPAD 2007) continues a long series of conferences and is held in September 2007 at the TU Wien, Vienna, Austria. The conference is the leadin…g forum for Technology Computer-Aided Design (TCAD) held alternatingly in the United States, Japan, and Europe. The first SISPAD conference took place in Tokyo in 1996 as the successor to three preceding conferences NUPAD, VPAD, and SISDEP. With its longstanding history SISPAD provides a world-wide forum for the presenta tion and discussion of outstanding recent advances and developments in the field of numerical process and device simulation. Driven by the ongoing miniaturization in semiconductor fabrication technology, the variety of topics discussed at this meeting reflects the ever-growing complexity of the subject. Apart from the classic topics like process, device, and interconnect simulation, mesh generation, a broad spec trum of numerical issues, and compact modeling, new simulation approaches like atomistic and first-principles methods have emerged as important fields of research and are currently making their way into standard TCAD suites.
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 480 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | The "Twelfth International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices" (SISPAD 2007) continues a long series of conferences and is held in September 2007 at the TU Wien, Vienna, Austria. The conference is the leadin…g forum for Technology Computer-Aided Design (TCAD) held alternatingly in the United States, Japan, and Europe. The first SISPAD conference took place in Tokyo in 1996 as the successor to three preceding conferences NUPAD, VPAD, and SISDEP. With its longstanding history SISPAD provides a world-wide forum for the presenta tion and discussion of outstanding recent advances and developments in the field of numerical process and device simulation. Driven by the ongoing miniaturization in semiconductor fabrication technology, the variety of topics discussed at this meeting reflects the ever-growing complexity of the subject. Apart from the classic topics like process, device, and interconnect simulation, mesh generation, a broad spec trum of numerical issues, and compact modeling, new simulation approaches like atomistic and first-principles methods have emerged as important fields of research and are currently making their way into standard TCAD suites.
Sprache: Englisch
Verlag: Birkhäuser 2022
Serie: Modeling and Simulation in Science, Engineering and Technology, Buch 53 von 55. Buch 53 von 55 - Modeling and Simulation in Science, Engineering and Technology
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Verlag: Birkhäuser 2021
Serie: Modeling and Simulation in Science, Engineering and Technology, Buch 53 von 55. Buch 53 von 55 - Modeling and Simulation in Science, Engineering and Technology
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Simulation of Semiconductor Devices and Processes: Volume 5 (Computational Microelectronics)
Selberherr, Siegfried (Editor) / Stippel, Hannes (Editor) / Strasser, Ernst (Editor)
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Hardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 504 pages. 9.60x6.60x1.10 inches. In Stock.
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Zustand: New. The SISDEP 93 conference proceedings present outstanding research and development results in the area of numerical process and device simulation. The miniaturization of today s semiconductor devices, the usage of new materials and advanced process steps in .
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - The SISDEP 93 conference proceedings present outstanding research and development results in the area of numerical process and device simulation. The miniaturization of today s semiconductor devices, the usage of new materials and advanced process steps in the development of new semiconductor techno…logies suggests the design of new computer programs. This trend towards more complex structures and increasingly sophisticated processes demands advanced simulators, such as fully three-dimensional tools for almost arbitrarily complicated geometries. With the increasing need for better models and improved understanding of physical effects, these proceedings support the simulation community and the process- and device engineers who need reliable numerical simulation tools for characterization, prediction, and development. This book covers the following topics: process simulation and equipment modeling, device modeling and simulation of complex structures, device simulation and parameter extraction for circuit models, integration of process, device and circuit simulation, practical applications of simulation, algorithms and software.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Simulation of Semiconductor Processes and Devices 2007 | SISPAD 2007 | Tibor Grasser (u. a.) | Taschenbuch | xv | Englisch | 2017 | Springer | EAN 9783709119112 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anb…ieter: preigu.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The 'Twelfth International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices' (SISPAD 2007) continues a long series of conferences and is held in September 2007 at the TU Wien, Vienna, Austria. The conference is the leading forum for Te…chnology Computer-Aided Design (TCAD) held alternatingly in the United States, Japan, and Europe. The first SISPAD conference took place in Tokyo in 1996 as the successor to three preceding conferences NUPAD, VPAD, and SISDEP. With its longstanding history SISPAD provides a world-wide forum for the presenta tion and discussion of outstanding recent advances and developments in the field of numerical process and device simulation. Driven by the ongoing miniaturization in semiconductor fabrication technology, the variety of topics discussed at this meeting reflects the ever-growing complexity of the subject. Apart from the classic topics like process, device, and interconnect simulation, mesh generation, a broad spec trum of numerical issues, and compact modeling, new simulation approaches like atomistic and first-principles methods have emerged as important fields of research and are currently making their way into standard TCAD suites.
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Anbieter: moluna, Greven, , Deutschlandmoluna
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Zustand: New. This volume contains the proceedings of the 12th International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, SISPAD 2007, held September 2007 in Vienna, Austria. It provides a global forum for the presentation and discussion of recent .
Stochastic Approaches to Electron Transport in Micro- and Nanostructures
Nedjalkov, Mihail (Author)/ Dimov, Ivan (Author)/ Selberherr, Siegfried (Author)
Sprache: Englisch
Verlag: Birkhäuser 2021
Serie: Modeling and Simulation in Science, Engineering and Technology, Buch 53 von 55. Buch 53 von 55 - Modeling and Simulation in Science, Engineering and Technology
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Hardcover. Zustand: Brand New. 230 pages. 9.25x6.10x0.56 inches. In Stock.
