Sachdev manoj (16 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: New Age International Publisher 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 18 von 40. Buch 18 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
- Internationale Ausgabe
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USARomtrade Corp.
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EUR 26,68
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2006
Serie: Integrated Circuits and Systems, Buch 2 von 34. Buch 2 von 34 - Integrated Circuits and Systems
- Hardcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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EUR 115,63
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Zustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2010
Serie: Integrated Circuits and Systems, Buch 2 von 34. Buch 2 von 34 - Integrated Circuits and Systems
- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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EUR 140,07
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Zustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer US 2007
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 18 von 40. Buch 18 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Buchpark, Trebbin, DeutschlandBuchpark
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EUR 65,39
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 352 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Defect-oriented testing methods have come a long way from a mere interesting academic exercise to a hard industrial reality. Many factors have contributed to its industrial acceptance. Traditional approaches of testing modern integrated… circuits have been found to be inadequate in terms of quality and economics of test. In a globally competitive semiconductor market place, overall product quality and economics have become very important objectives. In addition, electronic systems are becoming increasingly complex and demand components of the highest possible quality. Testing in general and defect-oriented testing in particular help in realizing these objectives. For contemporary System on Chip (SoC) VLSI circuits, testing is an activity associated with every level of integration. However, special emphasis is placed for wafer-level test, and final test. Wafer-level test consists primarily of dc or slow-speed tests with current/voltage checks per pin under most operating conditions and with test limits properly adjusted. Basic digital tests are applied and in some cases low-frequency tests to ensure analog/RF functionality are exercised as well. Final test consists of checking device functionality by exercising RF tests and by applying a comprehensive suite of digital test methods such as I , delay fault testing, DDQ stuck-at testing, low-voltage testing, etc. This partitioning choice is actually application dependent.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 21 von 40. Buch 21 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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EUR 164,52
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Zustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 18 von 40. Buch 18 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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Zustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer US, Springer New York 2010
Serie: Integrated Circuits and Systems, Buch 2 von 34. Buch 2 von 34 - Integrated Circuits and Systems
- Softcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In Thermal and Power Management of Integrated Circuits, power and thermal management issues in integrated circuits during normal operating conditions and stress operating conditions are addressed. Thermal management in VLSI circuits is becoming an in…tegral part of the design, test, and manufacturing. Proper thermal management is the key to achieve high performance, quality and reliability. Performance and reliability of integrated circuits are strong functions of the junction temperature. A small increase in junction temperature may result in significant reduction in the device lifetime.This book reviews the significance of the junction temperature as a reliability measure under nominal and burn-in conditions. The latest research in the area of electro-thermal modeling of integrated circuits will also be presented. Recent models and associated CAD tools are covered and various techniques at the circuit and system levels are reviewed. Subsequently, the authors provide an insight into the concept of thermal runaway and how it may best be avoided. A section on low temperature operation of integrated circuits concludes the book.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2007
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 18 von 40. Buch 18 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes KönigreichMajestic Books
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Zustand: New. pp. 352 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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EUR 176,73
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Zustand: New. In.
- Hardcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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EUR 176,73
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Zustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 21 von 40. Buch 21 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschlandpreigu
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EUR 149,00
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Taschenbuch. Zustand: Neu. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies | Process-Aware SRAM Design and Test | Manoj Sachdev (u. a.) | Taschenbuch | xvi | Englisch | 2010 | Springer | EAN 9789048178551 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juer…gen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2007
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 18 von 40. Buch 18 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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EUR 225,62
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Zustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Netherlands, Springer 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 21 von 40. Buch 21 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
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EUR 178,02
EUR 61,65 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach t…o SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2007
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 18 von 40. Buch 18 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
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EUR 306,62
EUR 14,48 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Paperback. Zustand: Brand New. 2nd edition. 349 pages. 9.10x6.10x0.90 inches. In Stock.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Verlag 2007
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 18 von 40. Buch 18 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
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EUR 309,28
EUR 14,48 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Hardcover. Zustand: Brand New. 2nd edition. 328 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
Verlag: S.l., Springer 2008 figures 2008
- Hardcover
- Erstausgabe
Anbieter: Antiquarian Bookshop Klikspaan, Leiden, NiederlandeAntiquarian Bookshop Klikspaan
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EUR 70,00
EUR 19,30 VersandVersand von Niederlande nach USAAnzahl: 1 verfügbar
1st ed. - With index. - Hardcover, as new.
