Pavlov andrei (9 Ergebnisse)

Sprache: Englisch
Verlag: Taylor & Francis Group 2003
Serie: Profiles In Power, Buch 32 von 51. Buch 32 von 51 - Profiles In Power
- Softcover
Anbieter: Better World Books, Mishawaka, IN, USABetter World Books
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Zustand: Good. 1 Edition. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.

Sprache: Ukrainisch
Verlag: British Library, Historical Print Editions 2011
- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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Zustand: New. In.

Sprache: Englisch
Verlag: Taylor & Francis 2003
Serie: Profiles In Power, Buch 32 von 51. Buch 32 von 51 - Profiles In Power
- Softcover
Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna
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Zustand: New.

Sprache: Englisch
Verlag: Longman Pub Group 2003
Serie: Profiles In Power, Buch 32 von 51. Buch 32 von 51 - Profiles In Power
- Softcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
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EUR 114,22
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Paperback. Zustand: Brand New. 1st edition. 248 pages. 8.25x5.25x0.50 inches. In Stock.

Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 21 von 40. Buch 21 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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EUR 164,52
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Zustand: New. In.

Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2008
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 21 von 40. Buch 21 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Buchpark, Trebbin, DeutschlandBuchpark
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | As technology scales into nano-meter region, design and test of Static Random Access Memories (SRAMs) becomes a highly complex task. Process disturbances and various defect mechanisms contribute to the increasing number of unstable SRAM cells with pa…rametric sensitivity. Growing sizes of SRAM arrays increase the likelihood of cells with marginal stability and pose strict constraints on transistor parameters distributions.Standard functional tests often fail to detect unstable SRAM cells. Undetected unstable cells deteriorate quality and reliability of the product as such cells may fail to retain the data and cause a system failure. Special design and test measures have to be taken to identify cells with marginal stability. However, it is not sufficient to identify the unstable cells. To ensure reliable system operation, unstable cells have to be repaired. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.

Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2008
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 21 von 40. Buch 21 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Buchpark, Trebbin, DeutschlandBuchpark
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Zustand: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | As technology scales into nano-meter region, design and test of Static Random Access Memories (SRAMs) becomes a highly complex task. Process disturbances and various defect mechanisms contribute to the increasing number of unstable SRAM cells… with parametric sensitivity. Growing sizes of SRAM arrays increase the likelihood of cells with marginal stability and pose strict constraints on transistor parameters distributions.Standard functional tests often fail to detect unstable SRAM cells. Undetected unstable cells deteriorate quality and reliability of the product as such cells may fail to retain the data and cause a system failure. Special design and test measures have to be taken to identify cells with marginal stability. However, it is not sufficient to identify the unstable cells. To ensure reliable system operation, unstable cells have to be repaired. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.

Sprache: Englisch
Verlag: Routledge 2016
Serie: Profiles In Power, Buch 32 von 51. Buch 32 von 51 - Profiles In Power
- Hardcover
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes KönigreichMajestic Books
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EUR 205,20
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Zustand: New. pp. 244.

Sprache: Englisch
Verlag: Taylor & Francis 2016
Serie: Profiles In Power, Buch 32 von 51. Buch 32 von 51 - Profiles In Power
- Softcover
Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 187,38
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Einband - fest (Hardcover). Zustand: New.