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Ivan the Terrible
Buch 32 von 51: Profiles In PowerAnbieter: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Ivan the Terrible
Buch 32 von 51: Profiles In PowerAnbieter: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, USA
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Ivan the Terrible
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Ivan the Terrible
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Ivan the Terrible
Buch 32 von 51: Profiles In PowerAnbieter: Better World Books, Mishawaka, IN, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Very Good. 1 Edition. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Ivan the Terrible
Buch 32 von 51: Profiles In PowerAnbieter: Better World Books, Mishawaka, IN, USA
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Ivan the Terrible (Profiles in Power Series)
Buch 32 von 51: Profiles In PowerAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware Sram Design and Test
Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic TestingSonderangebotEUR 78,62
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In den WarenkorbZustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | As technology scales into nano-meter region, design and test of Static Random Access Memories (SRAMs) becomes a highly complex task. Process disturbances and various defect mechanisms contribute to the increasing number of unstable SRAM cells with parametric sensitivity. Growing sizes of SRAM arrays increase the likelihood of cells with marginal stability and pose strict constraints on transistor parameters distributions.Standard functional tests often fail to detect unstable SRAM cells. Undetected unstable cells deteriorate quality and reliability of the product as such cells may fail to retain the data and cause a system failure. Special design and test measures have to be taken to identify cells with marginal stability. However, it is not sufficient to identify the unstable cells. To ensure reliable system operation, unstable cells have to be repaired. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.
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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware Sram Design and Test
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Ivan the Terrible (Profiles in Power (Hardcover))
Buch 32 von 51: Profiles In PowerAnbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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