CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware Sram Design and Test

Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic Testing

Andrei Pavlov, Manoj Sachdev

ISBN 10: 1402083629 ISBN 13: 9781402083624
Verlag: SPRINGER NATURE, 2008
Sprache: Englisch
Zustand: Gebraucht Hardcover

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