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Field Emission Scanning Electron Microscopy: New Perspectives for Materials Characterization (SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Field Emission Scanning Electron Microscopy: New Perspectives for Materials Characterization
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 152 pages. 9.25x6.10x0.47 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Field Emission Scanning Electron Microscopy | New Perspectives for Materials Characterization | Nicolas Brodusch (u. a.) | Taschenbuch | SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology | xii | Englisch | 2017 | Springer | EAN 9789811044328 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Field Emission Scanning Electron Microscopy : New Perspectives for Materials Characterization
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book highlights what is now achievable in terms of materials characterization with the new generation of cold-field emission scanning electron microscopes applied to real materials at high spatial resolution. It discusses advanced scanning electron microscopes/scanning- transmission electron microscopes (SEM/STEM), simulation and post-processing techniques at high spatial resolution in the fields of nanomaterials, metallurgy, geology, and more. These microscopes now offer improved performance at very low landing voltage and high -beam probe current stability, combined with a routine transmission mode capability that can compete with the (scanning-) transmission electron microscopes (STEM/-TEM) historically run at higher beam accelerating voltage.
